检测项目

1.总硅含量测定：采用熔融法测量0.01%-50%范围的Si含量

2.总碳含量分析：高频燃烧红外法测定0.001%-6.0%的C总量

3.游离碳占比测试：化学分离法测定0.1%-15%非化合态碳

4.碳化硅相分析：XRD定量分析SiC相含量（精度0.5%）

5.氧干扰校正：氧含量补偿计算（适用O＞0.5%的合金材料）

检测范围

1.冶金行业：硅铁合金、硅锰合金等铁基合金材料

2.铸造行业：球墨铸铁、蠕墨铸铁等铸造用预处理剂

3.耐火材料：碳化硅砖、氮化硅结合碳化硅制品

4.半导体材料：多晶硅原料、单晶硅棒等光伏级材料

5.复合材料：碳纤维增强碳化硅陶瓷基复合材料

检测方法

ASTME1019-18：冶金材料中碳硫测定标准方法

ISO15350:2000：钢铁总碳量测定-高频燃烧红外法

GB/T223.71-1997：钢铁及合金化学分析方法-管式炉燃烧法测碳量

GB/T4336-2016：碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析法

JISG1211-2011：钢铁中硅含量的测定方法

检测设备

1.LECOCS844：高频红外碳硫分析仪（量程0.0001%-6.0%）

2.ThermoScientificiCAP7400：电感耦合等离子体发射光谱仪（Si元素分析）

3.BrukerD8ADVANCE：X射线衍射仪（SiC相定量分析）

4.EltraCS-2000：高频感应炉（配套非水滴定系统）

5.HoribaEMIA-920V2：红外吸收法碳分析仪（微克级检测限）

6.ShimadzuEDX-7000：能量色散X荧光光谱仪（快速筛查Si/C比）

7.PerkinElmerPinAAcle900T：原子吸收光谱仪（痕量Si测定）

8.NetzschSTA449F5：同步热分析仪（高温下Si/C反应研究）

9.MalvernMastersizer3000：激光粒度仪（样品前处理粒度控制）

10.MettlerToledoXP205：百万分之一分析天平（精确称量0.01mg）