检测项目

1.纯度测定：采用ICP-OES法检测主成分含量（≥99.5%）

2.钠含量分析：原子吸收光谱法（AAS）测定钠占比（18.3%-19.1%）

3.杂质元素检测：ICP-MS定量分析Fe、Cu、Pb等痕量金属（≤50ppm）

4.结晶水测定：热重分析仪（TGA）测量失重率（≤0.5%）

5.pH值测试：电位滴定法测定溶液pH（10%水溶液pH11.2-12.5）

检测范围

1.高纯镓酸钠粉末（纯度≥99.9%）

2.半导体用镓酸钠靶材（晶粒尺寸≤5μm）

3.催化剂前驱体溶液（浓度0.1-2.0mol/L）

4.锂离子电池正极掺杂材料（粒径D50=3-8μm）

5.光学玻璃添加剂（SiO₂基体复合物）

检测方法

1.ASTME1479-16：电感耦合等离子体发射光谱法测定金属杂质

2.ISO11885:2007：水质-多元素测定-ICP-OES法

3.GB/T223.5-2008：钢铁及合金化学分析方法-还原蒸馏次甲基蓝光度法测定硫量（适用于硫杂质检测）

4.GB/T4336-2016：碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析法（改进型用于钠元素测定）

5.JISK0114:2000：X射线荧光光谱分析通则（晶体结构验证）

检测设备

1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：多元素同步测定（检出限0.01ppm）

2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：钠元素专项分析（精度0.3%）

3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：晶体结构表征（角度范围5-90）

4.METTLERTOLEDOTGA/DSC3+热重分析仪：结晶水测定（温度范围25-1000℃）

5.HORIBALA-950激光粒度仪：粒径分布测试（量程0.01-3000μm）

6.Metrohm905Titrando电位滴定仪：pH精确测定（分辨率0.001pH）

7.Agilent7900ICP-MS：超痕量杂质检测（检出限ppt级）

8.ShimadzuUV-2600i分光光度计：特定离子浓度分析（波长范围190-1400nm）

9.MalvernZetasizerNanoZSP：Zeta电位测试（适用于溶液体系）

10.NetzschSTA449F5同步热分析仪：综合热性能测试（升温速率0.01-50K/min）