检测项目
1.调制深度：测量范围70%-99.9%，分辨率0.1%
2.频率响应特性：测试带宽10Hz-10GHz，动态范围3dB
3.线性度误差：非线性偏差≤0.5%，测试点间距5%FS
4.消光比：测量精度0.1dB@ER≥30dB
5.时间稳定性：24小时漂移量≤0.05%
检测范围
1.光学薄膜元件：包括衰减片、分光镜等镀膜器件
2.光纤通信组件：涵盖光隔离器、环形器及调制器等
3.半导体激光器件：DFB激光器、VCSEL阵列等发光元件
4.光电传感器系统：光电二极管阵列及APD探测器模组
5.空间光调制装置：LCOS相位调制器与MEMS微镜阵列
检测方法
ASTME275-08(2017)光学元件透射特性测试规范
ISO13694:2018激光束功率密度分布测量方法
GB/T31359-2015半导体激光器测试方法
IEC61280-2-2:2022光纤通信子系统基本测试规程
GB/T18311.3-2001纤维光学互连器件试验方法第3部分
检测设备
1.KeysightN7788B光波分析仪：支持0.6-1.65μm波长范围
2.EXFOIQS-12004光调制分析系统：10MHz-40GHz带宽
3.ThorlabsPM100D光功率计：最小分辨率0.01nW
4.Agilent81606A可调谐激光源：波长精度0.5pm
5.Newport2936-R光强控制器：动态范围60dB
6.AdvantestQ8384光谱分析仪：分辨率0.01nm
7.Rohde&SchwarzFSW67信号分析仪：最大分析带宽8.3GHz
8.OZOpticsLDC-3726偏振控制器：消光比＞35dB
9.ILXLightwaveFPM-8220多通道功率监控系统
10.HamamatsuC12132光电转换模块：响应时间＜50ps