检测项目

1.膜层厚度偏差：测量精度0.1μm（ASTMB487）

2.孔隙密度分析：分辨率≤0.5μm（ISO14647）

3.界面结合强度：测试范围0-100MPa（GB/T5210）

4.表面粗糙度：Ra值测量误差5nm（ISO4287）

5.电化学阻抗谱：频率范围10μHz-1MHz（ASTMG106）

检测范围

1.半导体晶圆镀膜（Al₂O₃/SiNₓ）

2.光伏组件减反射涂层（SiO₂/TiO₂）

3.医疗器械类金刚石薄膜（DLC）

4.汽车零部件PVD镀层（CrN/TiAlN）

5.柔性显示器件透明导电膜（ITO/PET）

检测方法

1.台阶仪法：ASTMF1943测定台阶高度差

2.划痕试验法：ISO20502评估临界载荷值

3.X射线光电子能谱：GB/T30704分析元素价态

4.聚焦离子束显微术：ASTME2809观测截面结构

5.原子力显微镜：ISO11039表征三维形貌

检测设备

1.BrukerDektakXTL轮廓仪：垂直分辨率0.1

2.ZeissSigma500场发射电镜：放大倍数1-1,000,000

3.CSMInstrumentsRevetest划痕仪：最大载荷50N

4.ThermoFisherESCALABXi+能谱仪：能量分辨率<0.45eV

5.Keysight5500原子力显微镜：扫描范围90μm90μm

6.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：角度重复性0.0001

7.Agilent5500椭偏仪：波长范围245-1700nm

8.GamryInterface5000E电化学工作站：电流分辨率10fA

9.HitachiSU3500扫描电镜：加速电压0.3-30kV

10.OlympusLEXTOLS5000激光显微镜：Z轴分辨率10nm