检测项目

1.粒度分布范围（D10-D90）

2.D50中值粒径（0.5μm）

3.比表面积（BET法测量精度3%）

4.颗粒形貌特征（长径比≥1:1.5）

5.Zeta电位（测量范围200mV）

检测范围

1.金属粉末（钛合金/铝合金/铜粉）

2.陶瓷材料（氧化铝/碳化硅/氮化硼）

3.药物制剂（微晶纤维素/乳糖辅料）

4.纳米材料（二氧化硅/氧化锌量子点）

5.高分子聚合物（聚苯乙烯微球/PLGA微粒）

检测方法

1.ASTMB822-20金属粉末粒度激光衍射法

2.ISO13320:2020粒度分析激光衍射通则

3.GB/T19077-2016粒度分布激光衍射法

4.ISO22412:2017动态光散射纳米颗粒测量

5.GB/T19627-2005粒度分析X射线沉降法

检测设备

1.Mastersizer3000（马尔文帕纳科）：0.01-3500μm激光衍射分析

2.NanosightNS300（马尔文）：10-2000nm纳米颗粒追踪

3.LA-960V2（堀场制作所）：干湿法一体化粒度测定

4.ZetaPALS（布鲁克海文）：Zeta电位与分子量联测

5.S3500系列（麦奇克拜尔）：超声分散沉降式粒度仪

6.JEOLJSM-7900F扫描电镜：亚微米级形貌观测

7.TriStarII3020（麦克仪器）：全自动比表面分析

8.CPSDC24000（瑞士万通）：离心沉降分级系统

9.ParticaLA-950V2（堀场）：广域动态范围测量

10.ZetasizerUltra（马尔文）：高浓度样品Zeta电位分析