检测项目

1.化学成分分析：测定Al含量（30%-35%）、S含量（65%-70%）及杂质元素（Fe≤0.02%、Si≤0.01%）

2.纯度测定：采用XRD法测定晶体纯度≥99.5%，非晶相含量＜0.3%

3.密度测试：真密度范围3.02-3.12g/cm，振实密度≥1.8g/cm

4.粒度分布：D50值控制在5-50μm区间，D90不超过100μm

5.热稳定性测试：TG-DSC分析分解温度＞600℃，失重率＜1%（N₂氛围）

检测范围

1.工业级硫化铝原料（粉末/块状）

2.电子元器件用高纯硫化铝靶材

3.锂电池正极材料前驱体

4.光学镀膜用纳米硫化铝颗粒

5.催化剂载体材料（蜂窝状/颗粒状）

检测方法

ASTME1941-04(2016)：采用X射线荧光光谱法测定硫/铝元素比例

ISO11885:2007：电感耦合等离子体发射光谱法检测痕量金属杂质

GB/T14840-2010：激光衍射法测定粒度分布特性

GB/T3074.1-2020：高温热重法评估材料热稳定性

ISO697:2021：气体容量法测定硫元素总量

检测设备

1.PANalyticalAxiosMAXX射线荧光光谱仪（元素定量分析）

2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（0.01-3500μm测量范围）

3.NetzschSTA449F3同步热分析仪（-150℃~1650℃热性能测试）

4.Agilent5110ICP-OES（ppb级金属杂质检测）

5.MicromeriticsAccuPycII1340真密度计（氦气置换法）

6.RigakuSmartLabX射线衍射仪（晶体结构分析）

7.MettlerToledoXPR206DR微量天平（0.001mg精度称量）

8.HoribaLA-960纳米粒度分析仪（动态光散射技术）

9.BuchiB-415熔点测定仪（相变温度测试）

10.ShimadzuUV-2600i分光光度计（紫外可见吸收光谱分析）