波长强度分布检测

检测项目

1.峰值波长定位：测量范围200-2500nm，精度0.2nm

2.半高宽（FWHM）：分辨率0.05nm@532nm

3.光谱带宽：覆盖紫外-可见-近红外（190-3300nm）

4.相对强度比：动态范围1:10⁶@500ms积分时间

5.背景噪声水平：暗电流≤0.1e-/pixel/s@-70℃制冷

检测范围

1.光学薄膜：包括增透膜、分光膜、滤光片等镀膜元件

2.半导体材料：GaN基LED外延片、SiC衬底等光电材料

3.荧光材料：稀土掺杂发光材料、量子点薄膜等

4.激光器件：固体激光晶体、光纤激光器输出端面

5.光纤产品：保偏光纤、光子晶体光纤等特种光纤

检测方法

ASTME275-08(2022)：紫外可见光谱描述与仪器验证规范

ISO13697:2019：光学元件激光损伤阈值测试方法

GB/T26533-2011：光电子器件用荧光粉测试方法

ISO12005:2003：激光束参数测量标准

GB/T26189-2010：彩色显示管用荧光粉发光特性测试

检测设备

1.OceanOpticsHR4000光谱仪：2048像素CCD阵列，200-1100nm范围

2.AgilentCary5000分光光度计：双单色器设计，175-3300nm宽谱段测量

3.HoribaiHR550成像光谱仪：焦长550mm，分辨率0.03nm@435.8nm

4.HamamatsuPMA-12光电分析系统：支持绝对辐射强度校准功能

5.LabsphereLMS-7600积分球：直径76cm，反射率＞98%涂层

6.NewportOrielCS260单色仪：1200g/mm光栅可选配

7.AndorSR-500i光谱响应测试台：带温控样品仓(-40℃~150℃)

8.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO：深制冷背照式CCD探测器

9.ThorlabsOSA205C光学频谱分析仪：C波段分辨率12.5MHz

10.BenthamTMc300单色仪系统：双光栅塔轮结构设计

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"波长强度分布检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。