检测项目
1.峰值波长定位：测量范围200-2500nm，精度0.2nm
2.半高宽（FWHM）：分辨率0.05nm@532nm
3.光谱带宽：覆盖紫外-可见-近红外（190-3300nm）
4.相对强度比：动态范围1:10⁶@500ms积分时间
5.背景噪声水平：暗电流≤0.1e-/pixel/s@-70℃制冷
检测范围
1.光学薄膜：包括增透膜、分光膜、滤光片等镀膜元件
2.半导体材料：GaN基LED外延片、SiC衬底等光电材料
3.荧光材料：稀土掺杂发光材料、量子点薄膜等
4.激光器件：固体激光晶体、光纤激光器输出端面
5.光纤产品：保偏光纤、光子晶体光纤等特种光纤
检测方法
ASTME275-08(2022)：紫外可见光谱描述与仪器验证规范
ISO13697:2019：光学元件激光损伤阈值测试方法
GB/T26533-2011：光电子器件用荧光粉测试方法
ISO12005:2003：激光束参数测量标准
GB/T26189-2010：彩色显示管用荧光粉发光特性测试
检测设备
1.OceanOpticsHR4000光谱仪：2048像素CCD阵列，200-1100nm范围
2.AgilentCary5000分光光度计：双单色器设计，175-3300nm宽谱段测量
3.HoribaiHR550成像光谱仪：焦长550mm，分辨率0.03nm@435.8nm
4.HamamatsuPMA-12光电分析系统：支持绝对辐射强度校准功能
5.LabsphereLMS-7600积分球：直径76cm，反射率＞98%涂层
6.NewportOrielCS260单色仪：1200g/mm光栅可选配
7.AndorSR-500i光谱响应测试台：带温控样品仓(-40℃~150℃)
8.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO：深制冷背照式CCD探测器
9.ThorlabsOSA205C光学频谱分析仪：C波段分辨率12.5MHz
10.BenthamTMc300单色仪系统：双光栅塔轮结构设计