检测项目

1.原子分散度分析：通过HAADF-STEM统计单原子占比（≥99.5%）

2.元素组成测定：EDS/WDS定量分析主元素纯度（误差≤0.05at%）

3.电子结构表征：XPS测定结合能位移（分辨率0.02eV）

4.配位环境解析：EXAFS拟合配位数（精度0.3）及键长（0.02）

5.表面电荷分布：KPFM测量功函数变化（灵敏度10meV）

6.热稳定性测试：TPD分析脱附温度（控温精度1℃）

检测范围

1.过渡金属基单原子催化剂（Fe,Co,Ni,Pt等）

2.二维材料负载单原子体系（石墨烯/MoS₂基体）

3.金属有机框架单原子复合材料（ZIF-8/UIO-66系列）

4.非金属掺杂半导体单原子结构（B/N/P掺杂体系）

5.核壳结构包覆单原子材料（SiO₂/TiO₂包覆型）

检测方法

1.ASTME3061-17扫描透射电镜定量分析方法

2.ISO21363:2020纳米颗粒尺寸分布测定通则

3.GB/T36065-2018纳米材料表面元素分析标准

4.ISO20289:2018X射线吸收精细结构谱分析方法

5.GB/T36402-2018拉曼光谱法测定晶体结构规范

检测设备

1.JEOLJEM-ARM300F：球差校正透射电镜，空间分辨率0.05nm

2.ThermoScientificK-Alpha+：X射线光电子能谱仪，能量分辨率0.45eV

3.BrukerDimensionIcon：原子力显微镜，支持PeakForceTapping模式

4.RigakuZSXPrimusIV：波长色散X射线荧光光谱仪，检出限1ppm

5.MalvernPanalyticalEmpyrean：X射线衍射仪，角度精度0.0001

6.PerkinElmerSTA8000：同步热分析仪，温度范围RT-1500℃

7.HORIBALabRAMHREvolution：共聚焦拉曼光谱仪，空间分辨率200nm

8.Agilent8900ICP-MS/MS：三重四极杆质谱仪，检出限ppt级