检测项目

1.电容量偏差：测量标称值与实测值差异范围（5%~20%），频率范围1kHz~100kHz。

2.耐压强度：直流电压测试（100V~2000V），持续60秒无击穿。

3.损耗角正切值（tanδ）：≤0.002（25℃/1kHz），温升至85℃时允许偏差30%.

4.绝缘电阻：≥10GΩ（DC100V/25℃），高温高湿（85℃/85%RH）下≥1GΩ.

5.温度循环特性：-55℃~+125℃循环100次后电容变化率≤5%.

检测范围

1.高频电路用金膜电容器（工作频率≥10MHz）

2.高温环境型金膜电容（耐受温度≥150℃）

3.高压直流支撑电容器（额定电压≥2000VDC）

4.金属化聚酯薄膜电容器（厚度2.5~10μm）

5.金属化聚丙烯薄膜电容器（容值范围0.1μF~100μF）

检测方法

1.IEC60384-1:2016《固定电容器通用规范》规定电容量及损耗测试方法

2.GB/T6346-2015《电子设备用固定电容器》规定耐压及绝缘电阻测试流程

3.ASTMD150-11(2018)介电常数与损耗因数的标准测试方法

4.ISO16750-4:2010道路车辆电气环境试验标准中的温度冲击测试程序

5.MIL-PRF-55514H军用级电容器环境适应性测试要求

检测设备

1.KeysightE4980A精密LCR测试仪：测量0.1pF~100mF电容及tanδ（频率20Hz~2MHz）

2.Chroma19032耐压测试仪：输出AC/DC0~5kV，精度1%

3.ESPECSH-642恒温恒湿箱：温控范围-70℃~+150℃，湿度10%~98%RH

4.Agilent4338B毫欧表：绝缘电阻测量范围0.01MΩ~10TΩ

5.ThermotronSM-32C温度冲击试验箱：转换时间≤15秒（-65℃~+175℃）

6.HiokiIM3536阻抗分析仪：支持四端对测量（频率4Hz~8MHz）

7.Tettex2961介质损耗测试系统：符合IEC60250标准

8.FLUKE1587绝缘电阻测试仪：最大测试电压1000VDC

9.HIOKIPW3390功率分析仪：谐波失真度测量精度0.1%

10.ZONHNDSJ-100电容寿命试验机：支持10000小时持续老化测试