1.主成分含量测定:ScK(SO₄)₂12H₂O纯度≥99.5%,采用差示扫描量热法测定结晶水含量(120.3mol)
2.重金属杂质检测:Pb≤5ppm、Cd≤2ppm、As≤3ppm(ICP-MS法)
3.阴离子残留控制:Cl⁻≤50ppm、NO₃⁻≤30ppm(离子色谱法)
4.晶体结构参数:晶胞参数a=1.24nm0.02nm(XRD法),空间群P4/nmm
5.热稳定性测试:TG-DSC联用分析分解温度≥320℃(升温速率10℃/min)
1.固体电解质材料:钪基快离子导体前驱体粉末
2.光学镀膜原料:高折射率镀膜用硫酸钪钾晶体
3.催化材料载体:甲烷氧化催化剂载体颗粒
4.电子陶瓷原料:压电陶瓷掺杂剂粉体
5.分析化学基准物质:光谱纯级单晶样品
1.ASTME1479-16《电感耦合等离子体质谱法测定高纯化学品中痕量金属杂质》
2.ISO20565-3:2008《含铬耐火制品化学分析-X射线荧光光谱法》
3.GB/T23942-2009《化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》
4.JISK0115:2021《X射线衍射分析方法通则》
5.GB/T30447-2013《纳米薄膜厚度测量射线衍射法》
1.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:检出限0.1ppt,配备SC-FAST自动进样系统
2.BrukerD8ADVANCEXRD:Cu靶Kα辐射(λ=0.15406nm),测角精度0.0001
3.Metrohm930CompactICFlex:双抑制电导检测器,阴离子检出限<0.1ppb
4.NetzschSTA449F5Jupiter:TG-DSC同步热分析仪,温度范围RT-1600℃
5.MalvernMastersizer3000:激光粒度仪,测量范围0.01-3500μm
6.AgilentCary630FTIR:ATR附件光谱分辨率4cm⁻,扫描范围4000-600cm⁻
7.ShimadzuUV-2600i:积分球附件实现固体粉末反射率测定(200-1400nm)
8.ZeissSigma500FE-SEM:场发射扫描电镜搭配EDAX能谱仪(分辨率1.0nm@15kV)
9.MettlerToledoXPR6U超微量天平:最小称量值0.1μg,重复性0.25μg
10.AntonPaarSurPASS3:zeta电位及表面电荷分析仪(pH2-12可调)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"硫酸钪钾检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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