检测项目
1. 纯度测定：采用电感耦合等离子体光谱法（ICP-OES）测定TiI4主成分含量≥99.9%
2. 杂质元素分析：通过GD-MS检测Fe、Al、Ca等13种金属杂质≤50ppm
3. 晶体结构表征：X射线衍射（XRD）分析晶型匹配度（R值≤0.05）
4. 粒度分布测试：激光粒度仪测定D50值（1-5μm）及分布宽度指数PDI＜0.3
5. 热稳定性评估：同步热分析仪（STA）测定分解温度＞200℃
检测范围
1. 催化剂用纳米碘化钛粉末
2. 半导体镀膜用高纯碘化钛靶材
3. 光学器件表面处理涂层材料
4. 锂离子电池固态电解质前驱体
5. 有机合成反应中间体化合物
检测方法
1. ASTM E1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱标准试验方法》
2. ISO 17034:2016《标准物质生产者能力要求》
3. GB/T 4325-2020《钼化学分析方法》扩展应用于钛系化合物
4. JIS K 0136:2018《X射线衍射定量分析方法》
5. GB/T 19077-2016《粒度分布激光衍射法》
检测设备
1. Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步分析系统
2. Bruker D8 ADVANCE XRD：配备LynxEye阵列探测器
3. Malvern Mastersizer 3000：干湿法双模激光粒度仪
4. Netzsch STA 449 F5 Jupiter：同步热分析系统
5. Agilent 8900 ICP-MS/MS：三重四极杆质谱仪
6. Shimadzu EDX-7000：能量色散X射线荧光光谱仪
7. PerkinElmer TGA 4000：热重分析仪
8. Micromeritics ASAP 2460：比表面积及孔隙度分析仪
9. Leica DM4M金相显微镜：500倍显微结构观察系统
10. Metrohm 905 Titrando：卡尔费休水分测定系统