检测项目

1.插入损耗：测量范围0.5-2.0dB@1550nm波长带

2.偏振相关损耗(PDL)：精度0.02dB@C波段

3.波长依赖性：扫描范围1528-1565nm@0.1nm分辨率

4.半波电压(Vπ)：测试范围3-6V@1kHz方波输入

5.消光比：动态范围≥30dB@10Gbps速率

检测范围

1.LiNbO3基电光调制器芯片

2.硅基光子集成调制器模块

3.保偏光纤耦合型相位调制器

4.微波光子学用IQ调制组件

5.量子通信系统偏振编码器件

检测方法

ASTMD3149-18光器件插入损耗测试规程

ISO/IEC14763-3:2014光网络元件特性测量方法

GB/T18311.34-2016光纤器件偏振特性试验程序

IEC61290-1-2:2005光放大器光谱分析测试法

GB/T15972.42-2021光纤试验方法波长色散测量

检测设备

1.AgilentN7788B光谱分析仪：波长精度5pm@C波段

2.EXFOFTB-5240S-P偏振分析仪：PDL测量分辨率0.001dB

3.KeysightN4373E光波元件分析仪：带宽支持至67GHz

4.LunaOVA5000矢量分析系统：相位噪声≤0.1rms

5.ThorlabsPAX1000偏振控制器：响应时间<50μs

6.SantecTSL-570可调谐激光源：输出功率+13dBm@1520-1620nm

7.ViaviMAP-200自动化测试平台：支持多通道并行测试

8.AnritsuMP2110ABERT系统：误码率测试灵敏度10^-12

9.Newport2936-R光功率计：线性度0.02dB@-70~+10dBm

10.OZOpticsLDC-3726B驱动电源：电压分辨率1mVpp@DC-20MHz