底反射检测

检测项目

1.基底反射率：测量波长范围200-2500nm，精度0.5%

2.表面均匀性：扫描分辨率0.1mm/点，平面度误差≤λ/10

3.色度坐标偏差：CIE1931标准下ΔE≤0.8

4.散射特性：ASTME2387标准下散射系数＜3%

5.偏振敏感性：S/P值波动范围1.2%

检测范围

1.光学玻璃基底镀膜（增透膜/反射膜）

2.半导体晶圆表面钝化层

3.金属镜面抛光件（铝/银/金镀层）

4.陶瓷基复合材料（氮化硅/氧化锆）

5.聚合物光学元件（PC/PMMA基材）

检测方法

ASTME903-20《材料太阳吸收率与反射率测试》

ISO13696:2022《光学元件散射特性测量》

GB/T26331-2010《光学薄膜基本要求及测试方法》

ISO9211-4:2012《光学镀膜环境耐久性试验》

GB/T13384-2008《仪器仪表表面处理通用技术条件》

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050分光光度计：波长范围175-3300nm，积分球直径150mm

2.ZygoVerifireMST激光干涉仪：632.8nm波长，PV值分辨率0.1nm

3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：垂直分辨率0.1，扫描速度50μm/s

4.ShimadzuISR-2600积分球系统：Φ1000mm球体结构，8入射角配置

5.KonicaMinoltaCS-2000色度分析仪：1观测角配置，亮度范围0.003-20,000cd/m

6.OceanInsightFX-VIS-NIR光纤光谱仪：350-1000nm波段响应时间10ms

7.AgilentCary7000全能型分光光度计：支持VW/VN/VU三种测量模式

8.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：空间分辨率＜1μm@532nm

9.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：12000超分辨成像能力

10.KeysightN1077A偏振分析模块：支持Stokes参数实时测量

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"底反射检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。