均匀粒径检测

检测项目

1.粒径分布范围：测定D10（10%累积分布粒径）、D50（中位粒径）、D90（90%累积分布粒径），精度0.5μm

2.平均粒径（D50）：基于体积/数量加权计算核心粒径值

3.粒度分散度（PDI）：通过动态光散射法测定多分散指数（范围0.001-0.7）

4.最大/最小粒径：识别样本中极端值（＞100μm或＜10nm）

5.比表面积：基于BET原理测定（范围0.01-1000m/g）

检测范围

1.金属粉末：钛合金/铝合金3D打印粉末（15-53μm）

2.陶瓷材料：氧化锆/碳化硅结构件原料（0.1-50μm）

3.制药原料：API微粉化颗粒（1-150μm）

4.高分子材料：聚乙烯/聚丙烯微球（10nm-300μm）

5.纳米材料：二氧化硅/氧化锌纳米颗粒（1-100nm）

检测方法

1.激光衍射法：ASTMB822-20《金属粉末粒度分布标准测试方法》，ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》

2.动态光散射法：ISO22412:2017《纳米技术-动态光散射法测定纳米颗粒尺寸》

3.图像分析法：GB/T21649.1-2008《粒度分析图像分析法》

4.筛分法：GB/T6003.1-2012《试验筛技术要求和检验》

5.BET比表面法：GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

检测设备

1.MalvernMastersizer3000：激光衍射粒度仪（0.01-3500μm），符合ISO13320标准

2.BeckmanCoulterLS13320XR：湿法/干法两用分析仪（0.04-2000μm）

3.HoribaLA-960V2：全自动激光粒度仪（10nm-5mm），支持21CFRPart11合规

4.MicromeriticsTriStarIIPlus：BET比表面分析仪（0.0005m/g以上）

5.SympatecHELOS/KR：动态成像系统（1μm-8mm），符合ASTMB822标准

6.BrookhavenZetaPALS：纳米粒度及Zeta电位分析仪（0.3nm-10μm）

7.ShimadzuSALD-7500nano：紫外激光粒度仪（7nm-800μm）

8.AntonPaarPSA1190：声学衰减法粒度仪（10nm-3000μm）

9.MicrotracMRBSync：三波长激光系统（0.01-2800μm）

10.MalvernZetasizerUltra：高灵敏度纳米粒度仪（0.3nm-10μm）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"均匀粒径检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。