检测项目

1.介电常数测定（频率范围1kHz-1MHz，精度0.05）

2.介质损耗因数（tanδ）测量（分辨率0.0001）

3.击穿电压强度测试（电压范围0-50kVAC/DC）

4.体积电阻率分析（测试电压500VDC）

5.热稳定性评估（温度范围-70℃~300℃，升温速率5℃/min）

检测范围

1.高分子绝缘材料：聚乙烯（PE）、聚四氟乙烯（PTFE）薄膜及管材

2.陶瓷介质材料：氧化铝陶瓷基板、钛酸钡基介电陶瓷

3.复合材料制品：玻璃纤维增强环氧树脂层压板

4.电子封装材料：半导体封装用环氧模塑料

5.功能涂层材料：微波吸收涂层、高压绝缘涂层

检测方法

国际标准：ASTMD150-18介电常数测试方法、IEC60250电极系统配置规范

国际标准：ISO6721-1塑料介电性能测定通则

国家标准：GB/T1409-2006固体绝缘材料介电性能试验方法

国家标准：GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数测定方法

行业规范：SJ/T1147-2015电子陶瓷介质损耗测试规程

检测设备

1.AgilentE4990A阻抗分析仪（频率20Hz-120MHz）

2.KeysightB1505A高功率器件分析系统（电压3kV）

3.HiokiIM3536LCR测试仪（基本精度0.05%）

4.HaefelyHipotronicsCT8000耐压测试系统（AC50kV/DC70kV）

5.NetzschDEA288Epsilon介电分析仪（温度范围-160℃~500℃）

6.QuadTech7600精密LCR表（测试频率达1MHz）

7.MeggerMIT525绝缘电阻测试仪（电压范围50V-5kV）

8.Tettex2903自动介质损耗测量系统（符合IEC60247标准）

9.Chroma19032耐电弧试验机（符合ASTMD495标准）

10.GWInstekLCR-8105G高频阻抗分析仪（频率达10MHz）