检测项目
1.介电常数测定（频率范围1kHz-1MHz，精度0.05）
2.介质损耗因数（tanδ）测量（分辨率0.0001）
3.击穿电压强度测试（电压范围0-50kVAC/DC）
4.体积电阻率分析（测试电压500VDC）
5.热稳定性评估（温度范围-70℃~300℃，升温速率5℃/min）
检测范围
1.高分子绝缘材料：聚乙烯（PE）、聚四氟乙烯（PTFE）薄膜及管材
2.陶瓷介质材料：氧化铝陶瓷基板、钛酸钡基介电陶瓷
3.复合材料制品：玻璃纤维增强环氧树脂层压板
4.电子封装材料：半导体封装用环氧模塑料
5.功能涂层材料：微波吸收涂层、高压绝缘涂层
检测方法
国际标准：ASTMD150-18介电常数测试方法、IEC60250电极系统配置规范
国际标准：ISO6721-1塑料介电性能测定通则
国家标准：GB/T1409-2006固体绝缘材料介电性能试验方法
国家标准：GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数测定方法
行业规范：SJ/T1147-2015电子陶瓷介质损耗测试规程
检测设备
1.AgilentE4990A阻抗分析仪（频率20Hz-120MHz）
2.KeysightB1505A高功率器件分析系统（电压3kV）
3.HiokiIM3536LCR测试仪（基本精度0.05%）
4.HaefelyHipotronicsCT8000耐压测试系统（AC50kV/DC70kV）
5.NetzschDEA288Epsilon介电分析仪（温度范围-160℃~500℃）
6.QuadTech7600精密LCR表（测试频率达1MHz）
7.MeggerMIT525绝缘电阻测试仪（电压范围50V-5kV）
8.Tettex2903自动介质损耗测量系统（符合IEC60247标准）
9.Chroma19032耐电弧试验机（符合ASTMD495标准）
10.GWInstekLCR-8105G高频阻抗分析仪（频率达10MHz）