1. 纯度分析:采用X射线衍射法(XRD)测定主成分含量≥99.5%,杂质总量≤0.3%
2. 硫含量测定:硫元素占比控制在35.2%-36.8%(理论值36.1%)
3. 锡含量测定:原子吸收光谱法(AAS)测定锡含量63.5%-64.5%
4. 氧含量控制:惰性气体熔融法测定氧元素≤200ppm
5. 晶型结构表征:Raman光谱分析正交晶系特征峰(245cm⁻¹, 315cm⁻¹)
6. 粒度分布:激光粒度仪D50值控制在1-5μm范围
7. 热稳定性测试:TG-DSC联用仪测定分解温度≥550℃
1. 电子元件用硫化亚锡半导体薄膜
2. 光伏材料中SnS光吸收层
3. 锂离子电池负极材料前驱体
4. 化工催化剂载体材料
5. 纳米级硫化亚锡粉体原料
6. 薄膜太阳能电池组件
7. 热电转换器件核心材料
1. GB/T 32651-2016《硫化金属化合物化学分析方法》
2. ASTM E1085-16《硫元素波长色散X射线荧光光谱法》
3. ISO 11885:2007《电感耦合等离子体发射光谱法》
4. GB/T 4336-2016《碳硫分析仪测定法》
5. ISO 13320:2020《激光衍射法粒度分析》
6. ASTM E1356-08《差示扫描量热法标准试验方法》
7. JIS K0136-2015《拉曼光谱分析通则》
1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪:物相分析与晶体结构测定
2. PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光谱仪:微量金属元素定量分析
3. Bruker S8 TIGER X射线荧光光谱仪(波长色散型):主量元素快速检测
4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:0.01-3500μm粒径分布测试
5. Netzsch STA 449 F3同步热分析仪:-150℃~1650℃热稳定性测试
6. Horiba LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪:532nm/785nm双激光源配置
7. LECO ONH836氧氮氢分析仪:氧元素ppm级精确测定
8. Agilent 720 ICP-OES光谱仪:多元素同步定量分析
9. Zeiss Sigma 500场发射扫描电镜:微观形貌与能谱联用分析
10.Mettler Toledo XPR6U微量天平:0.001mg精度称量系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"硫化亚锡检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。
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