1. 间隙原子浓度测定:采用EDS/WDS技术分析C/N/O等元素含量范围0.01-10 at.%
2. 晶格畸变量计算:通过XRD测定晶格常数变化量精度±0.0001 nm
3. 扩散系数测定:基于Arrhenius方程计算温度范围300-1500℃下的扩散激活能
4. 固溶体稳定性评估:DSC法测定析出相形成温度精度±0.5℃
5. 元素分布均匀性分析:EPMA面扫描分辨率达50 nm
1. 金属合金体系:钛合金β相中O/N固溶体、铝合金α-Fe中C固溶体
2. 陶瓷材料:氮化硅中Al/Y掺杂固溶体、氧化锆稳定化固溶体
3. 半导体材料:硅基材料中B/P间隙掺杂体
4. 高温合金:镍基合金中W/Mo固溶强化相
5. 功能材料:储氢合金中H间隙固溶体
ASTM E1508-2020《电子探针定量分析方法》规定WDS元素定量流程
ISO 15632:2021《微束分析-能谱仪性能规范》规范EDS校准程序
GB/T 17359-2023《微束分析能谱法定量分析通则》规定标样选择原则
ASTM E975-2020《X射线衍射残余应力测定》包含晶格应变计算模型
GB/T 13301-2019《金属材料高温扩散系数测定方法》规定梯度法测试规程
1. FEI Nova NanoSEM 450场发射扫描电镜:配备Oxford X-MaxN 150mm² EDS探测器
2. Rigaku SmartLab 9kW高分辨X射线衍射仪:配备HyPix-3000二维探测器
3. CAMECA IMS 7f二次离子质谱仪:质量分辨率>20,000@m/z=28
4. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪:DSC灵敏度<1 μW
5. Shimadzu EPMA-8050G电子探针:波长分辨率<5 eV@Mn Kα
6. Bruker D8 ADVANCE XRD系统:配备Eulerian cradle测角仪
7. Thermo Fisher Helios G4 UX聚焦离子束系统:定位精度±5 nm
8. Oxford Instruments AZtecLive Ultim Max 170 EDS系统:探测限达0.01 wt.%
9. JEOL JXA-8530F场发射电子探针:空间分辨率3 nm@15 kV
10. Malvern Panalytical Empyrean XRD平台:配备Pixel3D探测器
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"间隙固溶原子检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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