短单壁碳纳米管检测

检测项目

1. 长度分布：通过动态光散射(DLS)测定100-500 nm范围内的管长正态分布

2. 直径分析：采用高分辨透射电镜(HR-TEM)测量0.8-1.2 nm管径误差±0.05 nm

3. 手性指数(n,m)：近红外荧光光谱(NIR-PL)测定半导体型SWCNTs的(6,5)/(7,5)/(8,3)特征峰

4. 金属/半导体比例：紫外-可见-近红外吸收光谱(UV-Vis-NIR)计算M11/S22峰面积比

5. 表面缺陷密度：拉曼光谱D/G峰强度比(ID/IG)控制在0.05-0.15区间

检测范围

1. 纳米复合材料中的SWCNTs增强相

2. 生物医药领域的靶向药物载体材料

3. 锂离子电池导电添加剂用SWCNTs

4. 柔性电子器件中的透明导电薄膜

5. 航空航天用高强度轻量化结构材料

检测方法

ISO/TS 21346:2021《纳米技术-碳纳米管样品长度分布的测量》

ASTM E2859-11(2021)《碳纳米管拉曼光谱表征标准指南》

GB/T 30448-2013《纳米材料中金属杂质含量的测定 ICP-MS法》

ISO/TR 10929:2012《纳米材料比表面积测定 BET法》

GB/T 33818-2017《碳纳米管导电性能测试方法》四探针法

检测设备

1. HORIBA LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪：532/633/785 nm三波长激光源，空间分辨率＜1 μm

2. JEOL JEM-2100F场发射透射电镜：点分辨率0.19 nm，配备Gatan Orius SC200D CCD相机

3. Malvern Zetasizer Nano ZSP动态光散射仪：测量范围0.3 nm-10 μm，温度控制±0.1℃

4. Thermo Scientific Nicolet iN10 MX红外显微镜：4 cm⁻¹分辨率，128×128像素焦平面阵列探测器

5. Agilent 5500 AFM原子力显微镜：ScanAsyst模式，Z轴分辨率0.05 nm

6. Bruker Dimension Icon扫描探针显微镜：PeakForce Tapping技术，最大扫描范围90 μm

7. PerkinElmer Lambda 1050紫外分光光度计：波长范围175-3300 nm，杂散光＜0.00007%T

8. Shimadzu ICPMS-2030电感耦合等离子体质谱仪：质量范围3-270 amu，检出限＜0.1 ppt

9. Quantachrome Autosorb-iQ全自动比表面分析仪：孔径分析范围3.5-500 Å，真空度＜10⁻⁸ Torr

10. Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪：电流分辨率10 aA，电压精度±0.025%

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"短单壁碳纳米管检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。