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光学非均质性检测

  • 原创官网
  • 2025-04-07 11:21:47
  • 关键字:光学非均质性测试标准,光学非均质性测试机构,光学非均质性测试仪器
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光学非均质性检测概述:光学非均质性检测是评估材料内部光学特性分布均匀性的关键技术手段,主要针对折射率、双折射率、散射系数等核心参数进行量化分析。本文系统阐述该检测的标准化项目、适用材料范围、国际/国内方法标准及专用设备配置方案,为工业质量控制与科研实验提供技术依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1. 折射率偏差:测量波长范围380-1600nm内折射率波动值(Δn≤±0.0005)

2. 双折射率分布:最大双折射量值(Δn_max≤5×10⁻⁶)及空间梯度(≤0.1μm⁻¹)

3. 散射系数测定:依据ISO 13696标准测量体散射(BSDF≤10⁻⁴ sr⁻¹)

4. 应力双折射:残余应力引起的相位延迟量(≤2 nm/cm)

5. 透射波前畸变:PV值≤λ/10@632.8nm,RMS≤λ/50

检测范围

1. 光学玻璃:包括熔石英、BK7、氟磷酸盐玻璃等成型元件

2. 晶体材料:LiNbO₃、CaF₂、蓝宝石等单晶/多晶光学元件

3. 聚合物薄膜:PET、PC等光学级塑料薄膜基材

4. 镀膜元件:AR膜、高反膜等多层介质膜系组件

5. 光纤预制棒:石英基光纤芯层/包层结构均匀性

检测方法

ASTM D4093-95(2020):塑料双折射测量标准方法

ISO 13696:2002:光学元件散射特性测试规范

GB/T 7962.20-2010:无色光学玻璃测试方法第20部分:应力双折射

GB/T 11168-2022:光学晶体均匀性测试方法

ISO 10110-8:2020:光学元件制图要求第8部分:表面结构参数

检测设备

1. Zygo Verifire™ MST激光干涉仪:波长632.8nm,波前精度λ/1000 PV

2. Hinds Instruments Exicor® 150AT双折射测量系统:灵敏度0.01nm延迟量

3. Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计:波长范围185-3300nm,分辨率0.1nm

4. OptoGration MAP-200应力分布仪:测量范围±50nm/cm,空间分辨率5μm

5. Bruker ContourGT-X3白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,横向精度1μm

6. Thorlabs PAX1000偏振分析仪:波长400-1700nm可调,精度±0.5°

7. Agilent 8700 LD激光散射仪:动态范围10⁻³~10⁻⁷ sr⁻¹ BSDF

8. Horiba Jobin Yvon UVISEL 2椭圆偏振仪:入射角15-90°,光谱分辨率1meV

9. Olympus BX53M应力显微镜:配备SENARMONT补偿器(精度1nm)

10. Prism Master® PM6000折射率分析仪:测量精度±0.00002@589nm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光学非均质性检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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