高纯镉粒检测

检测项目

1. 纯度分析：镉含量≥99.999%（5N级），采用差减法计算主元素占比

2. 杂质元素测定：包含Cu≤0.5ppm、Fe≤1.0ppm、Pb≤0.3ppm等21种痕量元素

3. 氧含量测试：氧浓度控制≤10ppm（LECO氧氮氢分析仪）

4. 粒度分布：D50值20-200μm可调（激光衍射法测量）

5. 密度与硬度：理论密度8.65g/cm³±0.05%，维氏硬度HV≥15

检测范围

1. 半导体级镉粒：用于MCT（碲镉汞）红外探测器制造

2. 光伏用高纯镉靶材：薄膜太阳能电池镀膜原料

3. 核工业用镉控制棒：中子吸收材料（Cd-113同位素丰度≥97%）

4. 电子器件镀层材料：继电器触点防氧化镀层

5. 高纯镉合金原料：Cd-Te、Cd-Zn等化合物半导体前驱体

检测方法

1. ASTM E1479-16《金属化学分析的火焰原子吸收标准试验方法》

2. ISO 17294-2:2016《水质-ICP-MS法测定微量元素》扩展应用于固体样品

3. GB/T 4336-2016《碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法》适配镉基材料改良法

4. GB/T 20127-2006《金属材料 氧氮氢分析通则》热导法测定氧含量

5. ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法的通用要求》

检测设备

1. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：痕量元素定量分析（检出限0.01ppb）

2. PerkinElmer PinAAcle 900T AAS：火焰/石墨炉双模式原子吸收光谱仪

3. Malvern Mastersizer 3000：激光粒度分析仪（测量范围0.01-3500μm）

4. LECO ONH836：脉冲熔融氧氮氢联测仪（氧分辨率0.01ppm）

5. Shimadzu EDX-8000HS：能量色散X射线荧光光谱仪（元素范围Be-U）

6. Mettler Toledo XPE205电子天平：微量称量（精度0.01mg）

7. Buehler Micromet 5103显微硬度计：维氏/努氏硬度测试模块

8. Netzsch DIL 402 Expedis Classic：热膨胀系数测定仪（温度范围-160℃-1550℃）

9. Agilent 7900 ICP-MS/MS：三重四级杆质谱仪（干扰消除模式）

10. Bruker D8 ADVANCE XRD：X射线衍射仪（晶体结构验证）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"高纯镉粒检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。