检测项目

1.波长精度：0.2nm@200-1100nm

2.响应线性度：0.5%FS（满量程）

3.暗电流噪声：≤1nA@25℃

4.动态范围：10^6:1（350-900nm）

5.温度漂移系数：0.02%/℃（-20℃至60℃）

检测范围

1.光学薄膜：AR/IR截止膜、分光膜

2.光电传感器：硅基CCD/CMOS、InGaAs探测器

3.显示器件：OLED微腔结构、量子点薄膜

4.光纤器件：FBG光栅、WDM滤波器

5.光伏材料：钙钛矿层、异质结电池

检测方法

1.ASTME275-08(2022)：分光光度法测定透射比与反射比

2.ISO15470:2017：X射线光电子能谱表面分析

3.GB/T13384-2008：光学仪器通用技术条件

4.IEC60747-5-3:2020：光电子器件测试规范

5.JJG1034-2008：光谱辐射亮度计检定规程

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计（190-3300nm）

2.AgilentCary7000全能型分光光度计（175-3300nm）

3.OceanInsightQEPro光谱仪（200-1100nm）

4.KeysightB2902A精密源表（0.1fA-10A/210V）

5.ThermoScientificESCALABXi+XPS系统（0.1eV分辨率）

6.LabsphereLMS-7600积分球系统（直径150mm）

7.NewportOrielCS260B单色仪（200-2500nm）

8.Keithley2636B双通道源表（10fA分辨率）

9.BrukerVertex80v真空型FTIR光谱仪（远红外至可见光）

10.HamamatsuC12132光电响应测试系统（DC-100MHz带宽）