检测项目

1.击穿电压：测量范围5kV-50kV（DC/AC），精度0.5%

2.漏电流测试：量程0.1μA-10mA（DC1kV条件下）

3.响应时间：纳秒级测量（上升时间≤10ns）

4.绝缘电阻：500V-5kV测试电压下≥10GΩ

5.温度特性：-55℃至+150℃温箱循环测试

6.机械寿命：≥10^6次触发耐久性试验

检测范围

1.半导体触发管（硅/碳化硅基材）

2.气体放电触发管（氩气/氖气填充）

3.高压陶瓷封装触发器件

4.军工级抗辐射型触发组件

5.工业设备用大功率触发模块

6.微型化贴片式触发元件

检测方法

1.ASTMD1868-2018绝缘强度测试规程

2.IEC60664-1:2020介质耐压试验标准

3.GB/T2423.22-2012温度循环试验方法

4.ISO16750-4:2010机械振动测试规范

5.GB/T17626.5-2019浪涌抗扰度试验

6.MIL-STD-750F方法1037寿命测试程序

检测设备

1.Chroma19032高压测试仪（0-100kV/20mA）

2.KeysightB2987A静电计（0.01fA-20mA）

3.TektronixDPO7254数字示波器（2.5GHz带宽）

4.ESPECSH-642恒温恒湿箱（-70℃~+180℃）

5.EMTESTUCS500N浪涌发生器（6kV/3kA）

6.Brel&KjrLDSV955振动台（5kN推力）

7.HiokiIR4056绝缘电阻计（1000V/10TΩ）

8.Fluke5790B场强分析仪（0-100kV/m）

9.Agilent4294A阻抗分析仪（40Hz-110MHz）

10.ThermoScientificCLD1000氦质谱检漏仪（灵敏度510^-12mbarL/s）