检测项目
1.反射率：测量波长650nm/780nm下的反射系数（≥70%为合格）
2.误码率（BLER）：最大块错误率≤220ECC/秒
3.翘曲度：径向偏差≤0.6，轴向偏差≤0.3
4.加速老化测试：85℃/85%RH环境下持续96小时性能保持
5.染料层均匀性：厚度公差5nm（椭圆偏振法测量）
检测范围
1.CD-R类：酞菁/偶氮染料基聚碳酸酯光盘
2.DVDR类：金属化偶氮化合物记录层
3.蓝光BD-R类：无机相变材料记录层
4.可擦写光盘（CD-RW/DVD-RAM）：Ag-In-Sb-Te相变合金层
5.特殊用途光盘：抗UV涂层/防水涂层光盘
检测方法
1.ISO/IEC9171-1:1990光学存储介质反射特性测试
2.ASTME2314-03(2018)数字存储介质误码率测定
3.JISX6243:2019光盘翘曲度测量规程
4.GB/T18800-2017光盘存储介质环境试验方法
5.ISO/IEC10995:2011光存储介质加速寿命试验
检测设备
1.J.A.WoollamM-2000U椭偏仪：纳米级染料层厚度测量
2.PulstecODU-1000误码率分析仪：支持1X-48X倍速扫描
3.MitutoyoCrysta-ApexS776三坐标仪：三维翘曲度分析
4.ESPECPL-3KPH恒温恒湿箱：温度范围-40℃~150℃
5.ShimadzuUV-2600i分光光度计：300-900nm光谱反射率测试
6.KeyenceVHX-7000数码显微镜：2000倍染料层缺陷观测
7.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：表面粗糙度Ra≤10nm测量
8.NetzschDMA242E动态机械分析仪：基板玻璃化转变温度测定
9.Agilent4294A阻抗分析仪：金属反射层导电特性测试
10.Taber5135耐磨试验机：500g载荷下抗划伤性能评估