检测项目

1.纯度测定：采用非氧含量法测定ThH₂主成分含量（≥99.5%）

2.氢含量分析：通过热重-质谱联用测定H/Th摩尔比（1.95-2.05）

3.晶体结构表征：XRD分析立方晶系结构参数（晶格常数a=5.390.02）

4.杂质元素检测：ICP-MS测定U、Fe、Si等痕量杂质（≤200ppm）

5.表面氧化层厚度：XPS深度剖析氧化层（≤3nm）

检测范围

1.核燃料组件中的ThH₂中子慢化剂

2.储氢材料中的ThH₂复合体系

3.高温合金涂层用ThH₂粉末原料

4.半导体行业掺杂用高纯ThH₂靶材

5.科研用单晶ThH₂样品

检测方法

ASTMC1234-18《核级氢化物中氢含量测定规程》

ISO21483:2017《钍基化合物杂质元素分析方法》

GB/T38724-2020《金属氢化物化学分析通则》

GB11224-2021《核材料中钍的测定方法》

ISO19214:2018《透射电镜法测定纳米晶体结构》

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备高温附件（25-1200℃）

2.NetzschSTA449F5同步热分析仪：TG-DSC联用系统

3.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：检出限0.01ppb

4.BrukerD8ADVANCEXRD：配备LYNXEYEXE探测器

5.ULVACPHIQuantesXPS：Ar+溅射速率0.5nm/min

6.JEOLJEM-ARM300F球差电镜：分辨率0.08nm

7.MettlerToledoTGA/DSC3+：最大升温速率200K/min

8.Agilent8890GC-MS：配备高温裂解进样器

9.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm

10.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：532nm/785nm双激光源