


1.正向压降(VF):测试电流1mA-10A范围,精度0.5%
2.反向击穿电压(VBR):测量范围50V-3000V,漏电流阈值≤1μA
3.结电容(Cj):频率1MHz条件下测试,分辨率0.1pF
4.反向恢复时间(trr):脉冲宽度100ns-10μs可调
5.热阻(RθJA):功率循环测试温差0.1℃
1.硅基二极管矩阵(SiDiodeArray)
2.碳化硅二极管矩阵(SiCDiodeArray)
3.肖特基二极管矩阵(SchottkyDiodeArray)
4.光电二极管矩阵(PhotodiodeArray)
5.快恢复二极管矩阵(FRDArray)
ASTMF42-20半导体器件静态参数测试规范
IEC60747-5:2020分立器件环境试验方法
GB/T4023-2015半导体器件热特性测试规程
ISO16750-4:2010汽车电子元件环境可靠性试验
GB/T4937-2018半导体器件机械和气候试验方法
KeysightB1505A功率器件分析仪:最大电压3000V/电流1000A
TektronixDPO7054数字示波器:带宽5GHz/采样率40GSa/s
Chroma19032耐压测试仪:AC/DC双模式输出
AgilentE4980ALCR表:频率20Hz-2MHz精度0.05%
ThermoStreamT-2600温度冲击箱:温变速率60℃/min
FLIRA655sc红外热像仪:热灵敏度30mK@30Hz
ESPECPL-3KPH气候箱:温湿度范围-70℃~180℃/10%~98%RH
Keithley2450源表:四象限电压/电流输出功能
HIOKIIM3590阻抗分析仪:支持C-V/L-V复合测量模式
NIPXIe-4143模块化仪器:多通道并行测试系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"二极管矩阵检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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