检测项目

1.波长范围：λ=200-2500nm（紫外至近红外波段）

2.倒数线色散率精度：D≤0.02nm/cm⁻

3.分辨率极限：Δλ≤0.1nm（FWHM）

4.线性度误差：δ≤0.05%（全量程）

5.重复性偏差：RSD＜0.3%（10次连续测量）

6.温度稳定性：ΔD/ΔT≤0.005%℃⁻（20-40℃）

检测范围

1.光学玻璃：包括BK7、熔融石英等折射率材料

2.光纤材料：单模/多模光纤预制棒及涂覆层

3.激光晶体：Nd:YAG、钛宝石等增益介质

4.光学薄膜：AR/HR镀膜及滤光片堆叠结构

5.半导体材料：InGaAs、SiC等光电探测器基材

检测方法

1.ASTME275-08(2017)：分光光度计波长标定规程

2.ISO13142:2015：激光测距仪色散特性评估方法

3.GB/T13323-2009：光学仪器色散测试通用规范

4.ISO7944:1998：光学系统光谱透射比测量

5.GB/T18311.3-2001：光纤器件基本试验第3部分：波长特性

6.DIN58197-2:2019：光学元件色散参数测试流程

检测设备

1.OceanOpticsHR4000光谱仪（分辨率0.035nm）

2.AgilentCary7000全能型分光光度计（190-3300nm）

3.BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪

4.ShimadzuUV-3600iPlus双单色器系统（5nm/cm⁻色散率）

5.NewportOrielMS260i成像光谱仪（1200g/mm光栅）

6.HoribaiHR550单级光谱分析仪（焦长550mm）

7.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计

8.AndorShamrockSR-500iCzerny-Turner光谱仪

9.ZolixOmni-λ3005单色仪（2400g/mm闪耀光栅）

10.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪