红外片检测

红外片检测是一种基于红外热成像技术的非接触式分析方法,主要用于材料缺陷识别、热分布评估及结构完整性验证。其核心在于通过红外辐射数据量化分析样品表面温度场变化,结合热传导模型判定内部异常。关键检测参数包括热扩散系数、发射率及温度分辨率等,需严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准以确保结果可靠性。

原创阅读 62025-04-08工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.热传导系数测定:测量范围0.01-500W/(mK),精度2%

2.红外发射率分析:波长范围8-14μm,分辨率0.01emissivity

3.缺陷深度定位:最小可检深度0.1mm(金属基材)

4.温度场均匀性评估:空间分辨率≤30μm/pixel

5.热响应时间测试:时间分辨率1ms-10min可调

检测范围

1.金属材料:包括铝合金焊接缺陷、钛合金疲劳裂纹检测

2.高分子复合材料:碳纤维层压板分层缺陷识别

3.电子元器件:PCB板热分布及BGA焊点虚焊检测

4.建筑围护结构:外墙空鼓率及保温层失效分析

5.航空航天部件:发动机叶片涂层脱落检测

检测方法

ASTME1934-22:红外热成像系统性能评估标准方法

ISO10878:2023:无损检测-红外热成像术语与定义

GB/T19870-2005:工业检测型红外热像仪技术要求

ASTME2582-22:脉冲红外热成像标准实践规程

GB/T32065.3-2020:电子元器件热特性测试方法

检测设备

1.FLIRT1020红外热像仪:640480分辨率,-40℃~2000℃量程

2.NECTH9100高速热像仪:1000Hz采样率,12801024像素

3.InfraTecImageIR8300:3-5μm中波制冷型探测器

4.Testo890高端分析仪:配备激光定位的3223视场角镜头

5.FLUKETiX580:搭载MultiSharp多点对焦技术

6.KeysightU5856A真IR热像仪:集成12种测量模式

7.XenicsGobi-640-GigE:量子阱红外探测器(QWIP)

8.OptrisPI640i:USB3.0接口的工业级测温相机

9.CISystemsSR-800N黑体辐射源:0.1℃温度稳定性

10.IRCAMEquus327k:集成锁相热成像算法的科研级系统

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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