检测项目

1.金属元素定量分析（Fe,Cu,Al等34种元素，浓度范围0.1ppm-99.99%）

2.非金属元素测定（C,S,P等12种元素，检出限0.01-0.5wt%）

3.痕量重金属检测（Pb,Cd,Hg等8项指标，LOD0.001-0.05mg/kg）

4.稀土元素配分分析（La-Lu共15种元素，精度0.3μg/g）

5.薄膜厚度与成分分析（厚度测量范围10nm-50μm，成分误差≤1.5%）

检测范围

1.金属合金材料：铝合金、钛合金、高温合金等

2.半导体材料：硅片、GaAs晶圆、光刻胶等

3.环境样品：土壤沉积物、工业废水、大气颗粒物

4.生物医药：药物活性成分、医疗器械表面涂层

5.石油化工：催化剂组分、润滑油添加剂、聚合物材料

检测方法

1.ASTME1479-16电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)

2.ISO17294-2:2016电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)

3.GB/T15337-2008原子吸收光谱法(AAS)

4.ASTME1252-17a激光诱导击穿光谱法(LIBS)

5.GB/T4336-2016X射线荧光光谱法(XRF)

检测设备

1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES（多元素同步测定）

2.Agilent7900ICP-MS（超痕量元素分析）

3.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪（重金属专项检测）

4.BrukerS8TIGERXRF光谱仪（固体样品无损检测）

5.HitachiUH4150紫外可见分光光度计（有机物定量分析）

6.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪（分子结构表征）

7.ShimadzuEDX-7000能量色散X荧光仪（RoHS指令筛查）

8.JY-TR24激光诱导击穿光谱系统（现场快速检测）

9.PerkinElmerLambda1050+紫外/近红外分光光度计（薄膜厚度测量）

10.BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪（高分子材料分析）