1.极化角精度:测量偏振方向偏差值(0.1~2),采用激光干涉法验证
2.反射率均匀性:扫描波长范围380-2500nm时反射率波动值(≤3%)
3.相位延迟量:测定λ/4波片在632.8nm波长下的延迟精度(0.5nm)
4.消光比:评估偏振片在400-700nm波段消光比(≥10000:1)
5.双折射分布:扫描样品表面双折射量(0-300nm/cm),空间分辨率10μm
1.光学薄膜:包括AR/VR设备用偏振膜、激光防护镜镀层
2.液晶面板:TFT-LCD显示单元的取向层与补偿膜
3.晶体材料:铌酸锂、石英等单晶器件的切割面定向验证
4.金属镀层:航空航天用偏振敏感型雷达吸波涂层
5.生物组织:角膜胶原纤维排列的偏振成像分析
1.ASTME903-20:基于积分球的分光光度法反射率测量
2.ISO13696:2002:激光散射法评估表面偏振特性
3.GB/T26389-2011:四象限探测器法测定偏振角偏差
4.ISO24157:2008:穆勒矩阵椭偏仪测量相位延迟量
5.GB/T37501-2019:共聚焦显微系统双折射定量分析
1.J.A.WoollamM-2000U型光谱椭偏仪:支持170-1700nm宽谱穆勒矩阵测量
2.ThorlabsPAX1000VIS/M偏振分析仪:波长范围400-700nm,角度分辨率0.01
3.ShimadzuISR-2600积分球附件:配合UV-3600分光光度计完成反射率测试
4.HindsInstrumentsPEM-100光弹调制系统:相位延迟测量精度0.05nm
5.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:双折射成像空间分辨率120nm
6.Agilent8509C偏振网络分析仪:10MHz-20GHz微波频段偏振特性测试
7.AxometricsAxoScan™快照式穆勒矩阵成像仪:每秒15帧动态偏振测量
8.LabSmithHVC1000高电压控制器:液晶器件电控偏振特性测试系统
9.CRiNuanceFX多光谱成像系统:400-900nm偏振分辨组织成像
10.HoribaSmartSPM原子力显微镜:纳米尺度表面取向特性关联分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"极化面检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。
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