


1.气体纯度测定:He≥99.999%、Ne≥99.995%、Ar≥99.9995%、Kr/Xe≥99.999%(体积分数)
2.同位素丰度分析:He/⁴He(0.000137%)、⁰Ne/Ne(9.800.08)、⁴⁰Ar/⁶Ar(295.50.5)
3.杂质气体含量:O₂≤0.5ppm、N₂≤1.0ppm、H₂O≤0.1ppm(露点-76℃)
4.放射性核素检测:Rn活度≤0.1Bq/L(GB18871-2002)
5.物理性质测试:密度(0.1786g/LHe)、导热系数(0.1513W/mKAr)、电离电位(15.76eVXe)
1.半导体制造用高纯气体:光刻气(KrF/ArF激光混合气)、离子注入气(BF₃/PH₃载气)
2.特种焊接保护气体:TIG焊用Ar-He混合气(ISO14175:2008)
3.医用惰性气体制剂:MRI超导磁体冷却液(液氦)、微泡造影剂(全氟丙烷-氙气混合)
4.核工业材料:反应堆中子慢化剂(高压氙气)、辐射探测器填充气(Kr-85示踪剂)
5.光学器件封装气:高功率激光器谐振腔净化气(Ne-He混合比例1:4)
1.ASTMD1945-14:气相色谱法测定烃类杂质含量(检出限0.1ppm)
2.ISO6142-1:2015:动态稀释法制备标准气体混合物
3.GB/T5832.3-2011:露点法测定水分含量(-80℃~+20℃量程)
4.ASTME2677-14:质谱法分析同位素比值(分辨率≥30000)
5.GB/T8984-2008:非色散红外吸收法测定CO/CO₂含量
6.ISO19238:2014:α能谱法测量氡气放射性活度
1.Agilent5977BGC-MS:配备TCD/FID双检测器,实现ppb级杂质分析
2.ThermoScientificTRACE1310气相色谱仪:专用PLOT分子筛色谱柱分离He/Ne/Ar
3.LGR-ICOSLosGatosResearch超灵敏激光光谱仪:测量Xe同位素丰度(精度0.01%)
4.AlphaGUARDPQ2000Pro氡监测仪:集成脉冲电离室与半导体探测器
5.MKSSpectraMaxIIFTIR:中红外光谱法快速测定含氟化合物杂质
6.VICIValco高压气体采样阀:耐压15MPa的六通切换进样系统
7.AMETEK5100N露点仪:电容式传感器测量范围-100~+20℃
8.PerkinElmerNexION350DICP-MS:高分辨模式分析Kr/Xe同位素
9.INFICONHAPSITEER便携式气质联用仪:现场快速筛查挥发性杂质
10.BronkhorstEL-FLOWSelect质量流量控制器:精确控制标准气体稀释比
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"零族元素检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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