检测项目

禁带宽度（Eg）：测量范围0.1-6.5eV，精度0.02eV

吸收系数（α）：测试波长200-2500nm

折射率（n）：测量精度0.001

消光系数（k）：分辨率≤0.005

透射率/反射率：光谱范围覆盖190-3300nm

检测范围

单晶/多晶半导体材料（Si、GaAs、InP等）

光伏材料（钙钛矿、CIGS、CdTe薄膜）

光学镀膜材料（TiO₂、SiO₂多层膜系）

二维材料（石墨烯、MoS₂异质结）

有机半导体材料（P3HT、PCBM共混体系）

检测方法

ASTME903-20紫外-可见分光光度法测定光学带隙

ISO14707:2015椭圆偏振光谱法表征薄膜光学常数

GB/T14571-2013晶体材料禁带宽度测试规范

GB/T31364-2015光学功能薄膜透射特性测试方法

JISK0155:2018半导体材料吸收光谱分析通则

检测设备

PerkinElmerLambda950紫外可见分光光度计：波长精度0.08nm

J.A.WoollamM-2000UI椭圆偏振仪：入射角调节范围45-90

AgilentCary7000全能型分光光度计：支持UDR附件扩展

BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪：分辨率0.1cm⁻

HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼系统：空间分辨率0.5μm

OceanInsightFX系列光纤光谱仪：积分时间10ms-10min可调

ThermoScientificEvolution220生物分光光度计：内置TaucPlot分析模块

ShimadzuUV-3600iPlus双单色器系统：杂散光≤0.00005%

FilmetricsF40薄膜分析系统：支持1nm-300μm膜厚测量