检测项目
禁带宽度（Eg）：测量范围0.1-6.5eV，精度0.02eV
吸收系数（α）：测试波长200-2500nm
折射率（n）：测量精度0.001
消光系数（k）：分辨率≤0.005
透射率/反射率：光谱范围覆盖190-3300nm
检测范围
单晶/多晶半导体材料（Si、GaAs、InP等）
光伏材料（钙钛矿、CIGS、CdTe薄膜）
光学镀膜材料（TiO₂、SiO₂多层膜系）
二维材料（石墨烯、MoS₂异质结）
有机半导体材料（P3HT、PCBM共混体系）
检测方法
ASTME903-20紫外-可见分光光度法测定光学带隙
ISO14707:2015椭圆偏振光谱法表征薄膜光学常数
GB/T14571-2013晶体材料禁带宽度测试规范
GB/T31364-2015光学功能薄膜透射特性测试方法
JISK0155:2018半导体材料吸收光谱分析通则
检测设备
PerkinElmerLambda950紫外可见分光光度计：波长精度0.08nm
J.A.WoollamM-2000UI椭圆偏振仪：入射角调节范围45-90
AgilentCary7000全能型分光光度计：支持UDR附件扩展
BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪：分辨率0.1cm⁻
HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼系统：空间分辨率0.5μm
OceanInsightFX系列光纤光谱仪：积分时间10ms-10min可调
ThermoScientificEvolution220生物分光光度计：内置TaucPlot分析模块
ShimadzuUV-3600iPlus双单色器系统：杂散光≤0.00005%
FilmetricsF40薄膜分析系统：支持1nm-300μm膜厚测量