检测项目

1.表面电位梯度：测量范围500mV/cm，分辨率0.1mV/cm

2.材料界面电位差：精度2mV（0-100mV量程）

3.介质扩散系数：测试频率1Hz-10MHz

4.动态极化响应：时间分辨率10μs

5.空间电荷分布：扫描步长5μm（XYZ三轴）

检测范围

1.半导体材料：硅片、GaN晶圆等电子级基材

2.高分子聚合物：PET薄膜、离子交换膜

3.生物医用材料：人工骨关节涂层、牙科种植体

4.能源存储材料：锂离子电池隔膜、超级电容器电极

5.复合材料：碳纤维增强环氧树脂、陶瓷基封装材料

检测方法

1.ASTMF1711-08非接触式表面电位测量标准

2.ISO21362:2019纳米材料表面电荷表征方法

3.GB/T23761-2020光催化材料表面电势测试规范

4.ASTMD4470-18聚合物介电性能测试标准

5.GB/T3789.4-2021电子元器件表面电位测试规程

检测设备

1.Keithley6517B静电计：分辨率0.01fA/0.1μV

2.TrekModel347静电电压表：量程20kVDC

3.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持10nV级微电势测量

4.ZetasizerNanoZSP电位分析仪：动态电泳迁移率测量

5.KPTechnologySKP5050扫描开尔文探针：空间分辨率10μm

6.HIOKIIM3590化学阻抗分析仪：频率范围10μHz-200MHz

7.Palmsens4多通道恒电位仪：支持多电极同步测量

8.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：导电AFM模块可测局部电势

9.Agilent4156C半导体参数分析仪：皮安级漏电流检测能力

10.ZahnerZenniumPro电化学工作站：集成M470阻抗模块