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点分辨力检测

  • 原创官网
  • 2025-04-10 15:46:16
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点分辨力检测概述:点分辨力检测是评估光学系统、成像设备及材料微观结构清晰度的重要技术指标,涉及分辨率极限、对比度传递函数等核心参数。本文依据国际及国家标准规范,系统阐述检测项目、适用材料范围、标准化方法及精密仪器配置,为工业质检与科研分析提供专业技术依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.极限分辨率测定:测量系统可分辨的最小点间距(0.1μm-10μm)

2.MTF(调制传递函数)分析:空间频率范围50-1000lp/mm

3.像面均匀性测试:全视场照度偏差≤5%

4.边缘锐度评估:边缘扩散函数半高宽≤2像素

5.噪声等效对比度:NEC≤0.5%@30dB信噪比

检测范围

1.光学成像元件:透镜组、滤光片、分光棱镜

2.半导体光刻掩膜版:线宽0.13-7nm制程

3.显示面板:LCD/OLED像素阵列(PPI300-2000)

4.生物显微样本:细胞切片(厚度1-50μm)

5.金属表面微结构:精密加工件(Ra0.01-0.8μm)

检测方法

ASTME112-13晶粒度测定标准

ISO14648:2001显微影像系统分辨率测试规范

GB/T16594-2008微米级长度扫描电镜测量方法

GB/T26140-2010光学传递函数测量标准

ISO15529:2010光学系统MTF测试规程

检测设备

1.ZeissSigma500场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV

2.BrukerContourElite三维光学轮廓仪:垂直分辨率0.1nm

3.KeyenceVK-X1000激光共聚焦显微镜:XY分辨率120nm

4.NikonNIS-ElementsMTF测试平台:支持ISO12233标准

5.OlympusBX63显微成像系统:配备20x-100x平场物镜

6.Agilent5500原子力显微镜:Z轴分辨率0.05nm

7.MitutoyoMF-U1000超精密测长机:精度(0.5+L/200)μm

8.ThorlabsMTF测量模块:空间频率范围10-2000lp/mm

9.ShimadzuAIM-9000红外热像仪:NETD<20mK@30℃

10.OphirBeamGage激光光束分析仪:采样率125Hz@1920x1200

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与点分辨力检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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