1.覆层厚度测量:采用X射线荧光法(XRF)测定0.5-200μm范围厚度值
2.显微硬度测试:维氏硬度计HV0.01-HV0.5载荷下测定800-2500HV区间硬度
3.结合强度分析:划痕法测试临界载荷≥30N的附着性能
4.孔隙率评估:金相显微镜观测孔隙密度≤5个/cm
5.化学成分分析:EDS能谱仪测定Si含量≥90at%
1.金属基材硅化涂层:不锈钢/钛合金表面MoSi₂、WSi₂涂层
2.高温防护涂层:镍基合金表面Ni-Si-B体系涂层
3.半导体器件镀层:硅晶圆表面TiSi₂、CoSi₂接触层
4.复合材料界面层:C/C-SiC复合材料SiC过渡层
5.医疗器械镀膜:骨科植入物表面Si-DLC复合涂层
1.ASTMB487-20《X射线光谱法测量金属镀层厚度》
2.ISO14577-1:2015《仪器化压痕试验测定硬度和材料参数》
3.GB/T8642-2022《热喷涂涂层结合强度试验方法》
4.ISO26423:2020《热障涂层孔隙率测试规程》
5.GB/T17359-2023《微束分析能谱法定量分析通则》
1.FischerXDV-SDDX射线测厚仪:分辨率0.01μm
2.Wilson402MVD显微硬度计:最大载荷500gf
3.CSMRevetest划痕测试仪:载荷分辨率0.01N
4.JEOLJSM-IT800扫描电镜:分辨率1nm@15kV
5.BrukerQuantaxEDS能谱系统:元素分析范围B-U
6.OlympusGX53金相显微镜:5000倍光学放大
7.NetzschDIL402C热膨胀仪:温度范围-150~1600℃
8.PARSTAT4000电化学工作站:阻抗频率10μHz-1MHz
9.RigakuSmartLabX射线衍射仪:角度精度0.0001
10.CreaformHandySCAN3D激光轮廓仪:精度0.025mm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"硅化覆层检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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