电子探针分析检测

电子探针分析(EPMA)是一种基于电子束与物质相互作用的微区成分分析技术,可实现对固体材料表面元素组成及分布的精确测定。其核心检测参数包括元素定性/定量分析、元素面分布及线扫描分析等,适用于金属、半导体、地质矿物等材料的成分表征。检测需遵循ASTM、ISO及GB/T标准规范,确保数据准确性和重复性。

原创阅读 102025-04-10工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.元素成分定量分析:测量范围B~U(原子序数5-92),检出限0.01-0.1wt%,加速电压5-30kV

2.元素面分布分析:空间分辨率≤1μm,最大扫描区域10mm10mm

3.线扫描成分分析:步长精度0.1μm,最大扫描长度5mm

4.氧化物含量测定:相对误差≤2%,适用SiO₂、Al₂O₃等常见氧化物

5.痕量元素检测:最低检出浓度50ppm(WDS模式),束斑直径0.5-50μm

检测范围

1.金属材料:高温合金、不锈钢、铝合金的相组成分析

2.半导体材料:GaAs、SiC晶片的掺杂元素分布表征

3.地质矿物:硅酸盐矿物中主量/微量元素含量测定

4.陶瓷材料:ZrO₂基复合材料相界元素扩散研究

5.环境颗粒物:PM2.5单颗粒物源解析及成分鉴定

检测方法

1.ASTME1508-12:电子探针定量分析标准规程

2.ISO22309:2011:微束分析-能谱法定量分析通则

3.GB/T15244-2020:电子探针定量分析方法通则

4.GB/T17359-2023:电子探针显微分析通用技术条件

5.ISO17470:2014:波谱法点分析技术规范

检测设备

1.JEOLJXA-8230:配备5道WDS光谱仪,元素分析范围B-U

2.ShimadzuEPMA-1720H:搭载全聚焦罗兰圆分光晶体系统

3.CamecaSXFiveFE:场发射电子枪设计,空间分辨率达0.1μm

4.TESCANEPMAProbes:集成EDS/WDS双探测系统

5.HitachiEPMA-8050G:配备高灵敏度气体流式计数器

6.OxfordInstrumentsUltimExtreme:能谱分辨率优于127eV

7.BrukerQUANTAXWDS:全自动多道波谱联用系统

8.AMETEKSPECTROEPMAPro:支持低真空模式样品分析

9.ThermoScientificNORANSystem7:三维元素成像功能模块

10.ZEISSSIGMAEPMA:Gemini电子光学镜筒设计

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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