检测项目
1.脉冲宽度响应:测量范围0.1-100μs,分辨率≤1ns
2.峰值电流耐受:测试区间10mA-50A(0.5%精度)
3.阳极-阴极耐压:DC0-30kV(步进梯度500V/s)
4.恢复时间特性:从10%到90%电平的恢复时间测量
5.温度漂移系数:-40℃至+125℃环境下的参数稳定性测试
检测范围
1.半导体级硅基十进管(纯度≥99.999%)
2.高温合金封装电子管(工作温度≥200℃)
3.微波频段专用十进管(频率范围1-18GHz)
4.高真空玻璃封装器件(真空度≤510⁻⁶Pa)
5.抗辐射加固型十进管(累计剂量≥100krad)
检测方法
1.ASTMF1801-18电子管脉冲特性标准测试规程
2.ISO15467:2005电子器件热稳定性评估方法
3.GB/T10238-2018电真空器件电参数测试通则
4.IEC60151-6电子管电性能测量国际规范
5.MIL-STD-750F军用电子元件环境试验方法
检测设备
1.TektronixAWG70002A任意波形发生器(带宽50GHz)
2.KeysightB1505A功率器件分析仪(电压3000V/电流1000A)
3.Chroma19032高压电源系统(输出30kV/10mA)
4.Fluke8588A参考级万用表(8.5位分辨率)
5.AgilentN9020BMXA信号分析仪(频率范围3Hz-50GHz)
6.ThermotronS-8C温控试验箱(温域-70℃~+180℃)
7.ESIRSZ-20辐射屏蔽测试舱(屏蔽效能≥80dB)
8.VACCOVF-9000真空度测量系统(精度0.05%)
9.NIPXIe-5164高速数字化仪(采样率5GS/s)
10.HIOKIPW3390功率分析仪(基本精度0.06%)