检测项目
1.矫顽力（Hc）：测量单位A/m或Oe
2.交换偏置场（Heb）：精度1%
3.饱和磁化强度（Ms）：量程0.1-2.5T
4.磁各向异性常数（Ku）：分辨率110J/m
5.磁滞回线矩形度（S*）：误差范围≤0.5%
检测范围
1.铁磁/反铁磁双层膜结构（如CoO/Co）
2.稀土-过渡金属合金薄膜（NdFeB/TbFeCo）
3.纳米晶复合永磁材料（α-Fe/Nd₂Fe₁₄B）
4.自旋阀多层膜结构（CoFe/Cu/CoFe/IrMn）
5.磁性隧道结器件（MgO基CoFeB体系）
检测方法
1.ASTMA977-15：振动样品磁强计法测定静态磁性参数
2.ISO19860:2019：超导量子干涉仪动态磁化测量规范
3.GB/T13888-2020：脉冲磁场下交换耦合强度测试规程
4.IEC60404-13:2018：薄膜材料界面耦合能测试导则
5.GB/T3656-2008：软磁材料直流磁特性测量方法
检测设备
1.LakeShore7400系列振动样品磁强计（VSM）：量程3T
2.QuantumDesignMPMS3SQUID磁强计：灵敏度10⁻⁸emu
3.OxfordInstrumentsMagLabEXA超导磁体系统：最大场强14T
4.KeysightB2900A精密源表：电流分辨率10fA
5.RikenDenshiBHV-525H高压脉冲磁场装置：脉宽10-1000μs
6.MicroSenseEZ9矢量磁滞回线仪：角度分辨率0.1
7.NeoceraCryogen-Free低温探针台：温区4-400K
8.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪：θ-θ测角精度0.0001
9.Agilent4156C半导体参数分析仪：电压范围100V
10.HitachiHF5000透射电镜：点分辨率0.19nm