二氧化硅含量测定

二氧化硅含量测定是材料分析中的关键项目,涉及化工、建材、医药等多个领域。本文系统介绍检测项目参数、适用材料范围、国际与国家标准方法及核心设备配置,重点阐述重量法、X射线荧光光谱法等主流技术要点,为实验室建立规范检测流程提供专业参考。

原创阅读 92025-04-11工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.总二氧化硅含量:测定范围0.1%-99.9%,精度0.5%

2.游离二氧化硅含量:石英相定量分析(0.1%-30%)

3.灼烧减量测定:950℃高温灼烧失重分析

4.结晶形态鉴别:α-石英/方石英/鳞石英相态鉴定

5.粒径分布测试:激光衍射法D50值测定(0.1-3500μm)

检测范围

1.无机非金属材料:石英砂、硅微粉、陶瓷原料等

2.高分子复合材料:硅橡胶制品、环氧树脂填料等

3.建筑材料:水泥熟料、混凝土掺合料、玻璃制品等

4.电子材料:单晶硅片、光伏组件封装材料等

5.药品辅料:二氧化硅药用载体(USP/EP标准)

检测方法

1.重量法(基准法):GB/T1873-2020《磷矿石中二氧化硅含量的测定》

2.X射线荧光光谱法:ISO12677-2011《耐火制品化学分析》

3.电感耦合等离子体发射光谱法:ASTME1479-16《金属材料化学分析》

4.红外分光光度法:GB/T30447-2013《纳米薄膜接触角测量》

5.热重分析法:ISO11358-1:2022《塑料聚合物热重分析》

检测设备

1.X射线荧光光谱仪(RigakuZSXPrimusIV):元素定量分析(Na-U)

2.高温马弗炉(NaberthermL5/11):最高温度1200℃,程序控温精度1℃

3.激光粒度仪(MalvernMastersizer3000):测量范围0.01-3500μm

4.红外光谱仪(ThermoNicoletiS50):4000-400cm⁻波数范围

5.等离子体发射光谱仪(PerkinElmerAvio500):检出限0.01ppm

6.热重分析仪(MettlerTGA/DSC3+):温度精度0.1℃

7.偏光显微镜(LeicaDM4P):500倍矿物相态观察

8.微波消解仪(MilestoneETHOSUP):40位高通量样品处理

9.电子天平(MettlerToledoXPR205):0.01mg称量精度

10.X射线衍射仪(BrukerD8ADVANCE):2θ角度范围5-165

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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