


1.面形精度检测:波长λ/20(λ=632.8nm),PV值≤0.1μm
2.表面粗糙度分析:Ra0.1-10nm,空间波长0.1-1mm
3.厚度均匀性测量:分辨率0.5μm(厚度范围0.1-50mm)
4.折射率分布测试:Δn210⁻⁵(透明介质)
5.热变形量监测:位移分辨率10nm(温度范围-50℃~300℃)
1.光学元件:激光透镜、棱镜、窗口片等熔融石英/氟化钙材质制品
2.半导体晶圆:硅片/砷化镓基板表面平整度与薄膜厚度
3.精密机械部件:航空轴承滚道面、液压阀芯端面
4.MEMS器件:微镜阵列面形一致性
5.镀膜基片:ITO导电膜、AR增透膜层应力分布
ASTME284-22《StandardTerminologyforAppearance》表面粗糙度测量规范
ISO10110-5:2015《光学和光子学光学元件和系统制图要求》面形公差标准
GB/T13323-2009《光学零件表面疵病》缺陷等级评定方法
GB/T16857.6-2014《产品几何量技术规范(GPS)坐标测量机的验收检测》三维形貌测试
ISO14999-4:2015《光学元件干涉法测量》相位解算技术要求
1.ZygoVerifireMST:动态干涉仪,最大测量口径Φ600mm,重复精度λ/1000
2.TaylorHobsonCCILite:白光干涉仪,垂直分辨率0.01nm
3.MitutoyoSurftestSJ-410:接触式粗糙度仪,探针半径2μm
4.BrukerContourGT-X3:三维光学轮廓仪,横向分辨率0.9μm
5.4DTechnologyPhaseCam6000:动态相移干涉仪,振动抑制>100Hz
6.Keysight5500ILM:激光干涉测量系统,线性测量范围80m
7.NikonNEXIVVM-300:视频测量机,XYZ轴精度(1.5+L/100)μm
8.RenishawXL-80:激光校准系统,线性精度0.5ppm
9.FisbaμPhaseFPS:光纤相位传感器,最小可测曲率半径0.5mm
10.TriopticsOptiCentricDual:双光路中心偏测量仪,角度分辨率1"
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"干涉仪检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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