检测项目

1.主成分含量测定：InBr₂纯度≥99.9%，采用差示扫描量热法（DSC）测定熔程（2852℃）

2.溴元素含量分析：理论值53.72%，允许偏差0.3%（GB/T23942-2009）

3.金属杂质限量：Fe≤5ppm、Cu≤2ppm、Pb≤1ppm（ICP-OES法）

4.水分含量控制：卡尔费休法测定H₂O≤50ppm（ISO760:2023）

5.晶体结构表征：XRD验证立方晶系（空间群Fm-3m），晶格参数a=6.340.02

检测范围

1.半导体级高纯二溴化铟（6N级）

2.有机合成催化剂用InBr₂颗粒（粒径D50=10-50μm）

3.光电子器件前驱体溶液（浓度0.1-1.0mol/L）

4.医药中间体复合物（InBr₂2THF配位化合物）

5.化学试剂标准物质（GBW(E)060328认证样品）

检测方法

1.ASTME1479-16电感耦合等离子体发射光谱法测定金属杂质

2.ISO11596:2023X射线衍射定量相分析

3.GB/T6283-2023卡尔费休库仑法测定微量水分

4.JISK0115:2022气相色谱-质谱联用分析有机挥发物

5.GB/T43341-2023热重分析法测定热稳定性（分解温度≥300℃）

检测设备

1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：多元素同步检测（LOD0.1ppm）

2.BrukerD8ADVANCEXRD：Cu-Kα辐射（λ=1.5406），步进扫描0.02

3.MettlerToledoTGA/DSC3+：温度范围25-1000℃，升温速率0.1-50℃/min

4.Metrohm917Coulometer：水分测定范围1ppm-5%，分辨率0.1μgH₂O

5.Agilent8890GC-MS：DB-5MS色谱柱（30m0.25mm0.25μm），EI离子源

6.MalvernMastersizer3000：激光粒度分析（0.01-3500μm）

7.PerkinElmerLambda950UV-Vis：波长范围175-3300nm，积分球附件

8.ShimadzuEDX-8000：能量色散X射线荧光光谱仪（Na-U元素分析）

9.NetzschSTA449F5Jupiter：同步热分析（TG-DSC联用）

10.JEOLJEM-2100FTEM：点分辨率0.19nm，晶格条纹成像