


1. 纯度分析:主成分含量≥99.999%(5N级),采用GC-MS/HPLC定量
2. 金属杂质:ICP-MS测定Na、K、Fe等18种元素(检出限≤0.1ppb)
3. 颗粒物控制:激光粒度仪检测0.1-10μm粒径分布(ISO 21501)
4. 水分含量:卡尔费休库仑法(检出限1ppm),符合GB/T 6283
5. 热稳定性:TGA/DSC联用分析分解温度(升温速率10℃/min)
1. 光刻胶:包括g线/i线、KrF/ArF光刻胶的显影残留物检测
2. 蚀刻液:磷酸系、氟化铵系溶液的金属离子浓度监控
3. CMP抛光液:二氧化硅/氧化铈磨料粒径及Zeta电位测定
4. 电子级溶剂:异丙醇、NMP等VOCs含量及水分控制
5. 封装材料:环氧树脂固化度与离子杂质(Cl⁻≤50ppm)
1. ASTM D1976-20《电感耦合等离子体质谱法测定高纯试剂》
2. ISO 14644-7:2004《洁净室悬浮粒子浓度分级》
3. GB/T 37249-2018《电子化学品纯度及杂质含量的测定》
4. JIS K0114:2021《气相色谱分析通则》
5. SEMI C35-0309《光刻胶金属污染物测试指南》
1. Agilent 7900 ICP-MS:多元素同步分析(质量数范围3-270amu)
2. Thermo Scientific iCAP RQ:三重四极杆质谱(检出限0.01ppt)
3. Malvern Mastersizer 3000:激光衍射粒度分析(0.01-3500μm)
4. Metrohm 917 Coulometer:全自动卡尔费休水分仪(精度±1μg)
5. PerkinElmer Clarus 690 GC-MS:EI/CI双电离源(质量范围1-1100Da)
6. Shimadzu TGA-50:热重分析仪(温度范围RT-1000℃)
7. Metrohm Autolab PGSTAT204:电化学工作站(电流分辨率10pA)
8. HORIBA LA-960V2:动态光散射Zeta电位仪(pH 2-12适用)
9. Agilent 1260 Infinity II HPLC:四元梯度泵(压力范围0-600bar)
10. Mettler Toledo SevenExcellence:多参数离子计(ORP/DO/电导率)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"电子化学品测试"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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