集成电路用化学品检测

集成电路用化学品检测是保障半导体材料性能与可靠性的关键环节,涵盖纯度、杂质含量、物理化学性质等核心指标。本文系统梳理了主要检测项目、适用材料范围、标准化方法及专用设备配置,为行业提供技术参考依据。

原创阅读 52025-04-16工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.金属杂质含量:钠(Na)、钾(K)、铁(Fe)等13种元素分析(检出限≤0.1ppb)

2.颗粒度分布:粒径D50值(0.1-10μm)、D90值偏差(5%)

3.总有机碳(TOC):浓度范围0.1-1000ppm(精度2%)

4.电导率:测量范围0.055-2000μS/cm(分辨率0.001μS/cm)

5.水分含量:卡尔费休法测定(检出限10ppm)

检测范围

1.光刻胶:包括I线胶、KrF胶、ArF液浸胶等

2.蚀刻液:磷酸系、氢氟酸系混合溶液

3.CMP浆料:氧化硅/氧化铈基研磨液

4.清洗剂:SC1/SC2溶液、NMP溶剂

5.沉积前驱体:TEOS、TMB等高纯气体

检测方法

ASTMD7122-22电感耦合等离子体质谱法测定痕量金属

ISO14644-7洁净室环境中颗粒物分级标准

GB/T11446.3-2013电子级水电阻率测试规范

GB/T37249-2018电子化学品酸度测定通用方法

SEMIC35-0309光刻胶粘度测试标准

检测设备

1.Agilent7900ICP-MS:金属元素痕量分析(质量数范围2-260amu)

2.MalvernMastersizer3000:激光粒度分析(0.01-3500μm)

3.Metrohm917Coulometer:库仑法水分测定(1μg-200mg)

4.HORIBALA-960V2:动态光散射仪(粒径分辨率0.3nm)

5.ThermoScientificiCAPRQ:四级杆ICP-MS(检出限≤0.5ppt)

6.MettlerToledoSevenExcellence:多参数电化学分析仪

7.ShimadzuTOC-LCPH:总有机碳分析仪(0.03-30000ppm)

8.BrookfieldDV2T:旋转粘度计(1-107mPas)

9.PerkinElmerPinAAcle900T:原子吸收光谱仪(火焰/石墨炉双模式)

10.SartoriusCubisIIMSA:微量天平(分辨率0.1μg)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

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