检测项目

1. 元素定量分析：测定Fe、Cu、Al等金属元素含量（检出限0.1-10ppm）

2. 分子结构鉴定：识别官能团特征峰（4000-400cm⁻¹红外波段）

3. 薄膜厚度测量：测量范围10nm-100μm（精度±0.5nm）

4. 晶体结构分析：XRD衍射角范围5°-90°（步长0.02°）

5. 荧光量子产率：测试波长200-900nm（相对误差＜3%）

检测范围

1. 金属材料：铝合金、不锈钢、钛合金等金属及合金制品

2. 半导体材料：硅晶圆、GaN外延片、光刻胶涂层

3. 环境样品：土壤重金属、水质COD值、大气颗粒物

4. 生物医药：蛋白质二级结构、药物晶型分析、细胞代谢产物

5. 高分子材料：聚乙烯结晶度、橡胶硫化程度、涂料固化率

检测方法

1. ASTM E1252-17 红外光谱定性分析标准方法

2. ISO 14707:2015 辉光放电光谱表面分析技术规范

3. GB/T 15337-2008 原子吸收光谱法通则

4. ISO 21258:2010 X射线荧光光谱法测定高纯物质

5. GB/T 24582-2021 紫外可见分光光度法测定多晶硅杂质

检测设备

1. PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光谱仪（火焰/石墨炉双模式）

2. Thermo Scientific Nicolet iS20傅里叶红外光谱仪（DTGS检测器）

3. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（LynxEye阵列探测器）

4. Agilent Cary 630紫外可见分光光度计（Peltier温控系统）

5. Horiba LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪（532/785nm双激光源）

6. Shimadzu RF-6000荧光分光光度计（15000:1信噪比）

7. JEOL JSM-IT800扫描电镜-能谱联用系统（30kV场发射枪）

8. Ocean Insight QE Pro光纤光谱仪（200-1100nm响应范围）

9. Malvern Panalytical Empyrean X射线荧光仪（4kW陶瓷管）

10. Hitachi UH4150紫外可见近红外分光光度计（反射附件）