检测项目
1. D10粒径：表征累积分布10%处的特征粒径值（μm）
2. D50中位径：表征累积分布50%处的特征粒径值（μm）
3. D90粒径：表征累积分布90%处的特征粒径值（μm）
4. Span值：(D90-D10)/D50计算粒度分布宽度
5. 均匀性指数：基于Rosin-Rammler方程计算的分布离散度
检测范围
1. 金属粉末：钛合金粉体/钨粉/3D打印金属粉末
2. 陶瓷材料：氧化铝微珠/碳化硅粉体/压电陶瓷原料
3. 医药颗粒：原料药微粉化颗粒/缓释制剂微粒
4. 化工催化剂：分子筛载体/贵金属催化剂颗粒
5. 食品添加剂：二氧化硅抗结剂/乳糖辅料微粒
检测方法
1. ASTM B822-20《金属粉末粒度分布的测定标准方法》
2. ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
3. GB/T 19077-2016《粒度分布 激光衍射法》
4. GB/T 1480-2012《金属粉末干筛分法测定粒度》
5. ISO 9276-2:2014《粒度分析结果的表述 第2部分：由粒度分布计算平均粒径》
检测设备
1. 马尔文帕纳科Mastersizer 3000：激光衍射法测量0.01-3500μm范围
2. 贝克曼库尔特LS 13 320 XR：具备激光衍射与动态成像双模系统
3. HORIBA LA-960：全自动湿法/干法两用激光散射粒度仪
4. 布鲁克海文BI-90Plus：动态光散射纳米粒度分析仪（0.3nm-6μm）
5. 麦奇克S3500：双光源激光衍射仪（0.02-2800μm）
6. 丹东百特BT-9300ST：全自动激光散射粒度分析系统
7. 岛津SALD-7500nano：纳米至亚微米级粒度分析仪
8. 安捷伦8900：电感耦合等离子体联用激光粒度仪
9. 新帕泰克HELOS/QUIXEL：动态图像法颗粒分析系统