磁膜线存储器检测

检测项目

1. 磁膜厚度测量：精度±0.5nm，范围10-500nm

2. 电阻率测试：直流四探针法测量，分辨率0.01μΩ·cm

3. 矫顽力分析：振动样品磁强计（VSM）测定Hc值±1%

4. 磁滞回线特性：最大磁场强度20kOe，频率1Hz-1MHz

5. 温度循环测试：-55℃~+150℃交变冲击100次

检测范围

1. 镍铁合金（NiFe）基磁膜存储线材

2. 钴基非晶合金薄膜存储器

3. 多层纳米叠层磁阻元件

4. 高频变压器用坡莫合金线材

5. 微型磁头阵列存储介质

检测方法

1. ASTM A912-19 磁性薄膜厚度X射线荧光法

2. ISO 2178:2016 非磁性基体磁性镀层厚度测量

3. GB/T 3658-2008 软磁材料矫顽力测试规范

4. IEC 60404-5:2015 磁性材料直流特性测量

5. GB/T 2423.22-2012 温度变化试验方法

检测设备

1. KLA-Tencor P7台阶仪：纳米级膜厚测量（0.1nm分辨率）

2. Lake Shore 8600系列VSM：磁场强度±3T精度0.1%

3. Keysight B2900A精密源表：电阻率测试10nΩ~1GΩ

4. Thermo Scientific ARL EQUINOX 100 X射线衍射仪：晶体结构分析

5. ESPEC TSE-11-A温度冲击箱：温变速率15℃/min

6. Agilent 4294A阻抗分析仪：频率范围40Hz~110MHz

7. Quantum Design MPMS3 SQUID磁强计：超导量子干涉测量

8. Hitachi SU8000场发射电镜：微观形貌观测（0.4nm分辨率）

9. Four Dimensions RS-1000四探针台：薄层电阻自动测绘

10. Bruker D8 DISCOVER X射线反射仪：界面粗糙度分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"磁膜线存储器检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。