发状晶体检测

检测项目

1. 晶体形貌参数：长度（10-500μm）、直径（0.5-5μm）、长径比（20:1-200:1）

2. 表面粗糙度：Ra值（0.01-0.5μm）、三维形貌重构

3. 元素组成分析：EDS能谱（0.1-20wt%）、XPS表面元素（探测深度2-10nm）

4. 热稳定性测试：TG-DSC联用（RT-1500℃）、热膨胀系数（1×10⁻⁶-15×10⁻⁶/K）

5. 力学性能：纳米压痕硬度（0.1-20GPa）、弹性模量（50-500GPa）

检测范围

1. 金属合金：镍基高温合金定向凝固组织、钛合金α/β相晶须

2. 无机非金属材料：碳化硅晶须增强陶瓷、氧化锌纳米线阵列

3. 高分子复合材料：液晶高分子纤维、聚酰亚胺晶须填料

4. 电子元器件：MLCC用BaTiO₃晶须介质层、LED衬底GaN纳米线

5. 生物医用材料：羟基磷灰石晶须骨修复材料、胶原蛋白纤维支架

检测方法

ASTM E112-13 晶粒度测定方法

ISO 13383-1:2012 精细陶瓷显微结构表征

GB/T 4334-2020 不锈钢腐蚀试验晶间腐蚀敏感性评估

ASTM E384-22 材料显微硬度测试标准

GB/T 30704-2014 电子探针显微分析通则

ISO 17853:2011 磨损碎片X射线衍射分析法

GB/T 29168.1-2012 碳纤维直径分布测试

检测设备

1. Hitachi SU5000场发射扫描电镜：分辨率1nm@15kV，配备BSE探测器

2. Thermo Scientific NORAN System 7能谱仪：元素探测范围B-U

3. Bruker Dimension Icon原子力显微镜：ScanAsyst模式接触式成像

4. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪：温度精度±0.1℃

5. Agilent G200纳米压痕仪：载荷分辨率50nN

6. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm

7. Rigaku SmartLab X射线衍射仪：Cu靶Kα辐射（λ=1.5406Å）

8. Zeiss Axio Imager A2m金相显微镜：5000:1动态对比度

9. Shimadzu EPMA-8050G电子探针：波长分辨率5eV

10. Keysight 5500LS扫描探针显微镜：噪声水平<0.02nm RMS

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"发状晶体检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。