检测项目

1. 粒径分布（D10/D50/D90）：测定10%、50%、90%累积体积下的特征粒径值

2. 比表面积：基于BET理论测定单位质量颗粒的总表面积

3. 粒径分布宽度（Span值）：计算（D90-D10）/D50表征分布离散度

4. 颗粒形貌分析：通过SEM/TEM图像分析球形度与团聚状态

5. Zeta电位：测量颗粒表面电荷特性（测试范围±200mV）

检测范围

1. 催化剂晶种：贵金属催化剂（Pt/Pd/Rh）、沸石分子筛等

2. 制药晶种：API原料药晶体（粒径范围0.1-500μm）

3. 纳米材料晶种：量子点（CdSe/CdTe）、金属氧化物纳米颗粒

4. 冶金晶种：金属粉末（Fe/Al/Ti基合金粉末）

5. 电子材料晶种：LED荧光粉（YAG:Ce）、锂电池正极材料前驱体

检测方法

1. 激光衍射法：ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》

2. 动态光散射法：ISO 22412:2017《纳米颗粒粒径分析》

3. 图像分析法：GB/T 21649.1-2008《粒度分析-图像分析法》

4. X射线沉降法：GB/T 19077-2016《粒度分布-激光衍射法》

5. 气体吸附法：GB/T 19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

检测设备

1. Mastersizer 3000（马尔文帕纳科）：激光衍射仪（测量范围0.01-3500μm）

2. Zetasizer Nano ZSP（马尔文帕纳科）：动态光散射仪（0.3nm-10μm）

3. SA-9650（Horiba）：比表面及孔隙度分析仪（比表面积≥0.0005m²/g）

4. S3500（Microtrac）：三波长激光粒度仪（0.02-2800μm）

5. BT-9300HT（丹东百特）：高温湿法激光粒度仪（0.1-1000μm）

6. NS500（Beckman Coulter）：纳米颗粒分析系统（0.6-6000nm）

7. JEM-2100F（JEOL）：场发射透射电镜（分辨率0.19nm）

8. SU8010（Hitachi）：冷场发射扫描电镜（1nm@15kV）

9. Bettersize2600（丹东百特）：干湿两用激光粒度仪（0.02-2600μm）

10. TriStar II Plus（麦克仪器）：全自动比表面分析仪（孔径范围3.5-5000Å）