1. 总汞含量测定:采用冷原子吸收光谱法(CVAAS),检出限0.01μg/g±5%
2. 汞齐孔隙率分析:基于压汞法(MIP),孔径测量范围3nm-500μm
3. 相态分布表征:X射线衍射(XRD)半定量分析γ1(Ag-Hg)相占比≥85%
4. 热稳定性测试:差示扫描量热法(DSC)测定相变温度区间50-150℃
5. 抗压强度验证:万能材料试验机加载速率0.5mm/min至断裂阈值≥150MPa
1. 牙科汞齐合金:ISO 24234标准规定的Ag-Sn-Cu-Hg四元体系材料
2. 工业用高汞触媒:氯碱行业电解槽含汞≥60%的钛基涂层电极
3. 电子封装材料:半导体器件中Hg-In-Ga低温焊料(熔点≤10℃)
4. 环境沉积物:土壤/水体中甲基汞(MeHg)与无机汞(Hg²⁺)形态分离
5. 考古金属文物:青铜器表面HgS腐蚀产物的非破坏性分析
1. ASTM E2941-21《汞齐中金属汞含量的热解原子吸收测定》
2. ISO 16772:2004《土壤质量-冷蒸气原子荧光光谱法测定总汞》
3. GB/T 223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法 还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》扩展应用
4. EPA Method 7473《热分解催化还原原子吸收光谱法测定固体/液体样品中的汞》
5. JIS K0222:2013《废气中汞的测定-金汞齐富集原子吸收法》
1. Thermo Scientific iCE 3500原子吸收光谱仪:配备汞空心阴极灯(波长253.7nm)
2. Micromeritics AutoPore V 9600压汞仪:最大压力60000psi(414MPa)
3. Malvern Panalytical Empyrean XRD系统:Cu-Kα辐射(λ=1.5406Å)
4. Mettler Toledo DSC3差示扫描量热仪:温度精度±0.1℃(-150~600℃)
5. Instron 5985万能试验机:100kN载荷传感器(符合ISO 6892-1)
6. Milestone DMA-80直接测汞仪:无需前处理直接分析固体样品
7. PerkinElmer NexION 350D ICP-MS:用于同位素稀释法测定痕量Hg
8. Metrohm 797 VA Computrace伏安极谱仪:检出限0.02μg/L溶解态Hg²⁺
9. HORIBA Jobin Yvon Ultima 2等离子体发射光谱仪:轴向观测模式提高灵敏度
10. Agilent 8900三重四极杆ICP-MS/MS:MS/MS模式消除²⁰²Hg干扰
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"汞齐法检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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