检测项目
1. 纯度测定：采用X射线荧光光谱法（XRF）分析主成分含量（99.0%-99.9%）
2. 水分含量：卡尔费休法测定游离水及结晶水（≤0.5%）
3. 重金属杂质：ICP-MS检测铅（Pb≤5ppm）、镉（Cd≤2ppm）、汞（Hg≤1ppm）
4. 卤素杂质：离子色谱法测定氯离子（Cl⁻≤0.1%）、溴离子（Br⁻≤0.05%）
5. 粒度分布：激光衍射法分析D50粒径（1-50μm）及分布宽度（PDI≤0.7）
检测范围
1. 光学晶体材料：红外窗口片、激光晶体基材
2. 工业催化剂：有机氟化反应催化剂载体
3. 电子元件：真空镀膜用蒸发源材料
4. 核工业材料：中子探测器的闪烁晶体
5. 高纯试剂：半导体级氟化铯颗粒
检测方法
1. ASTM E3061-17：ICP-MS法测定痕量金属杂质
2. ISO 20565-3:2008：XRF法分析主量元素
3. GB/T 11064.22-2020：碳酸盐含量的滴定法测定
4. GB/T 6283-2008：卡尔费休水分测定通用方法
5. ISO 13320:2020：激光衍射法粒度分析通则
检测设备
1. Rigaku ZSX Primus IV X射线荧光光谱仪：主成分定量分析
2. PerkinElmer NexION 350D ICP-MS：ppb级重金属检测
3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：纳米至毫米级粒径测试
4. Metrohm 899 Coulometric Karl Fischer滴定仪：微量水分测定
5. Thermo Scientific Dionex ICS-6000离子色谱仪：阴离子杂质分析
6. Shimadzu UV-2600i紫外可见分光光度计：溶液透光率测试
7. Mettler Toledo TGA/DSC 3+热重分析仪：热稳定性表征
8. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：晶体结构鉴定
9. Agilent 7890B气相色谱仪：有机挥发物残留检测
10. Sartorius Cubis II电子天平：万分之一精度称量