检测项目

1. 主成分含量测定：Sc₂O₃（0.5-15%）、Y₂O₃（30-70%）

2. 杂质元素分析：Fe≤500ppm、Si≤800ppm、Ca≤300ppm

3. 晶体结构表征：晶胞参数（a=9.62±0.03Å, c=8.95±0.02Å）

4. 粒度分布测试：D50=5-50μm（激光衍射法）

5. 放射性核素检测：U≤10Bq/g、Th≤20Bq/g

检测范围

1. 稀土冶炼中间体原料

2. 光学玻璃添加剂

3. 固体电解质材料

4. 核工业屏蔽材料

5. 高温超导材料前驱体

检测方法

1. ASTM C1605-04(2020) X射线荧光光谱法测定稀土氧化物

2. ISO 11885:2007 ICP-OES法测定金属杂质

3. GB/T 17418.3-2010 电感耦合等离子体质谱法测定痕量元素

4. GB/T 13221-2021 纳米粉末粒度分布的X射线小角散射法

5. ISO 18589-4:2019 γ能谱法测定放射性核素

检测设备

1. Thermo Scientific ARL PERFORM'X 4200型X射线荧光光谱仪（主成分定量）

2. Agilent 7900 ICP-MS（ppb级痕量元素分析）

3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪（0.01-3500μm测量范围）

4. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（晶体结构解析）

5. Canberra GCW3023高纯锗γ谱仪（放射性核素检测）

6. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪（热稳定性测试）

7. Zeiss EVO MA15扫描电镜（微观形貌观察）

8. PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES（金属杂质分析）

9. Micromeritics ASAP 2460比表面分析仪（BET法比表面积测定）

10. Rigaku ZSX Primus IV波长色散XRF（无标样快速筛查）